JTAG Boundary Scan Test Systems (IEEE 1149.1)

FlowCAD – XJTAG Boundary Scan Workshop

Das Seminar führt Sie in das Thema "Boundary Scan" ein. Angesprochen sind alle, die in den Bereichen Elektronikentwicklung, PCB-Design, Test und Produktion tätig sind. Anhand von praktischen, Hands-On Beispielen, gewinnen Sie einen überzeugenden Eindruck über das Boundary Scan Verfahren.

19.06.2013 (Mittwoch)
10:00h-17:00h
FlowCAD – München/Feldkirchen

Eine sehr gute Möglichkeit, die vielen Vorteile dieser Technologie zum Testen von Leiterplatten kennen zu lernen und sich selbst von der Leistungsfähigkeit der XJTAG Boundary Scan Tools zu überzeugen.

• Einführung in den JTAG, Boundary Scan Standard IEEE 1149.x
• Übertragen und Test der JTAG Kette (JTAG Chain Debugger)
• Werkzeuge zum Testen von JTAG fähigen Boundary Scan Komponenten,
  z.B. FPGA’s oder BGA’s (XJAnalyser)
• Allgemeine Einführung in den Baugruppentest unter Verwendung
  der JTAG Kette (XJDeveloper)
• Tipps und Tricks zum JTAG gerechten Stromlaufplan
• Fehlersuche beim JTAG Verbindungstest
• Testen von nicht JTAG fähigen Bauelementen wie Speicher oder
  Flash Bausteine unter Verwendung von Boundary Scan
• Baugruppentests in der Fertigung (XJRunner)

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Seminargebühr: € 750,-
(kostenlose Tagesverpflegung)
Anmeldungen unter:

Weitere Informationen finden Sie hier:
www.FlowCAD.de