JTAG Boundary Scan Test Systems (IEEE 1149.1)

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XJIO-PCI ボード

XJIO-PCI は、XJTAGテストシステムの拡張ボードです。PCIカードに接続してテストし、テスト対象基板に対するアクセスを向上させます。一連の、デジタルI/O、アナログI/O を擁し、テストのカバレッジと、欠陥解析の質を向上させるために用いることができます。

XJIO-PCI データ資料  increase digital and analogue test coverage  (PDF, 700k)  |  全てのデータシートをみる

XJIO-PCI expansion unit to improve analogue, digital and interface test coverage

主な効果

  • アナログ、デジタル、インターフェイスに対するテストカバレッジを上げて、信頼性を向上
  • より効果的に欠陥を検出し、デバッグ工数を削減
  • カスタム冶具の作成から開放され、コストを削減
  • JTAGデバイスを持たない基板に対するブラックボックステストを実現
  • 容易に接続できて、PCIボードをテストできる

機能

  • 96チャンネルデジタルI/O-1.8V ~ 3.3V 設定可能(5V 耐性)
  • 8チャンネルのADCとDAC
  • 複数台を連結して拡張可能
  • テスト作業をサポートするスイッチ、LED搭載
  • JTAGデバイスが搭載されていない基板のブラックボックステスト
  • あらゆる自作のテストジグに取って代わる、再利用可能なテストハーネス
  • 標準IDCコネクタ採用
  • ATX パワーコネクタ
  • 64 bit 3.3V PCIコネクタ
  • RS232 / UART

さらなるテストを実現

テスト対象基板をXJIO-PCI に接続することで、更なるオープン、ショートのテストを実現できるようになります。

テストで見逃されがちな製造上の欠陥として、コネクタは良くある原因のひとつです。この問題は高密度実装コネクタの出現で、増大するばかりです。

XJIO-PCIボード を用いることで、基板のJTAGチェインに接続されているネットだけでなく、PCIインターフェイスや他のコネクタに接続されているネット上の、欠陥の原因と場所を特定できるようになります。

この機能を用いることで、JTAGデバイスが搭載されていない基板でも、ブラックボックステストができるでしょう。

デジタルインターフェイス

96チャンネルの双方向デジタルI/O ピンに加え、PCIコネクタ上の64デジタルIOピンを最大限に活用することができます。全I/Oピンは、5V耐性。ディフォルトのロジックレベルは、3.3V。96チャンネルのI/O ピンは、16本単位のブロックで、3.3~1.8Vにユーザ定義が可能。

アナログインターフェイス

JTAGから制御可能な、8アナログ入力、8アナログ出力を搭載。例えば、ADCにより、アナログ測定(電源ラインが範囲内にあるかなど)が行えます。またDACにより、基板へのアナログ信号をシミュレートし、アナログデバイスのテストを可能にすることで、テストカバレッジを向上させることもできるでしょう。

RS232 インターフェイス

230KBaud までのRS232 接続可能なUART、RS232トランシーバを搭載し、JTAGチェインから直接制御可能で、さらなるテストのカバレッジを達成できます。

構成可能なJTAGチェイン

XJIO-PCIボード上の外部JTAGコネクタを用いて、JTAGのTAP信号をPCIコネクタや、基板上の他のヘッダーコネクタなどへルーティングすることが可能です。

拡張性

さらなる追加のPCIやI/Oピンが必要なら、全ての種類のXJIOボードをディジーチェインに接続して拡張することができます。XJIO-PCIボード上の全ての汎用デジタルI/Oコネクタは標準IDCであるので、ケーブルは汎用のものを効率良く利用することが出来るでしょう。

電源

標準ATXコネクタにより、XJIO-PCI ボードと PCI テスト対象基板に電源を供給できます。PCIカードに電源供給が必要ない場合は、XJTAGハードウエアから供給も可能です。

テスト作業をサポート

搭載されているスイッチ、LEDを用いて、テスト担当者は、基板に対する様々な確認作業を行えます。

ソフトウェア

XJTAGの全てのソフトウェア製品がXJIO-PCIと共に使用可能です。


XJTAGシステムに関するご質問や、価格等のお問合せは、弊社あるいは富士設備)まで連絡下さると幸いです。