JTAG Boundary Scan Test Systems (IEEE 1149.1)

JTAG について

JTAGは１０年以上の歴史を持つ技術です。しかしながら、テストツールやプログラミングツールとしての可能性については、注目され始めたばかりです。

歴史

デバイス集積度の上昇とBGAパッケージの利用といった半導体設計の進歩により、従来型のテスト手法が有効性を失いました。

これらの問題を打開するために、全世界の主要な半導体メーカーの幾つかが纏まり、Joint Test Action Groupを組織しました。IEEE標準　１１４９．１：スタンダード　テスト　アクセス　ポート及び、バウンダリースキャンアーキテクチャー　は、この組織の研究成果と提言を基に策定されています。この標準は組織との関連が深かったために、JTAGという名称で広く知られています。

JTAG の利用

JTAG対応のデバイスには、通常、そのデバイスのJTAG実装について記述しているBSDLファイルが提供されています。

JTAGチェインを通してテストシーケンスを送る為のプラットフォーム非依存の方法として、SVFが利用可能です。

応用

接続テストとインシステムプログラミングが、最も代表的なJTAGを使った応用例です。しかしながら、より多くの注目すべき技術があります。

JTAG未対応のデバイスについては、JTAGチェイン内のデバイスと回路内のその他のデバイスとの相互接続のネット情報を使ってテストすることが可能です。

XJTAGは、そのソフトウェア製品で構成された開発システムとUSB-JTAGコネクター（XJLink）またはPXI モジュールによりを使って、JTAGの潜在能力を最大限に引き出します。

資料

JTAG Introduction, Background, JTAG Connection Testing, In-system Programming

JTAGの詳細 >

JTAGを用いて出来ること

JTAG Technical Overview, TAP signals, Boundary Scan Instructions

JTAGのテクニカルガイド >

JTAGの実装に関する考察

Design for Test techniques

Design for Testability (DFT) Guidelines >

日本語版

circuit design, development, manufacturing, service

XJTAGを使ったJTAGテスト >

XJTAGによるJTAG機能の拡張方法


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