{"id":50335,"date":"2016-04-18T14:40:14","date_gmt":"2016-04-18T13:40:14","guid":{"rendered":"https:\/\/www.xjtag.com\/case-studies\/spea-case-study-2\/"},"modified":"2025-02-24T10:15:39","modified_gmt":"2025-02-24T10:15:39","slug":"spea-case-study","status":"publish","type":"case_studies","link":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/case-studies\/spea-case-study\/","title":{"rendered":"SPEA und XJTAG verbinden das Beste aus Flying-Probe und Boundary-Scan"},"content":{"rendered":"<p>Test-Ingenieure stehen unter zunehmendem Druck, da Leiterplatten immer dichter mit Komponenten best\u00fcckt werden, die wenig oder keinen Zugang zu Pins haben und der Platz f\u00fcr Testpunkte sehr stark begrenzt ist. SPEA hat auf dem Testmarkt eine Vorreiterrolle und bietet seinen Kunden eine Gesamtl\u00f6sung aus einer Hand, indem Boundary-Scan in SPEAs renommierte Flying-Probe- und Nagelbett-Tester integriert wird.<\/p>\n<p><span style=\"line-height: 1.5;\">SPEA ist ein weltweit f\u00fchrender Hersteller von automatisierten Pr\u00fcfger\u00e4\u00adten f\u00fcr die Halbleiter- und Elektronikindustrie, mit Kunden in M\u00e4rkten wie Luft- und Raumfahrt, Luftfahrttechnik, Telekommunikation, Automotive, Medizin, Verbraucher und Sicherheit. Die Nagelbett- und Flying-Probe-Testger\u00e4te f\u00fcr Leiterplatten des Herstellers sind multifunktionale Testsysteme, die zus\u00e4tzliche Techniken wie die optische Inspektion, 3D-Laser-Pr\u00fcfung und Open-Pin-Erkennung nutzen, um eine maximale Testabdeckung zu gew\u00e4hrleisten. Kunden von SPEA sind in der Lage ihren Endnutzern \u00fcber viele Jahre die Sicherheit einwandfreier Leiterplatten mit minimalen R\u00fcckl\u00e4ufen zu bieten.<\/span><\/p>\n<p>Jede neue Generation Leiterplatten erh\u00f6ht die Herausforderung, ein hohes Ma\u00df an Testabdeckung aufrechtzuerhalten. Leiterplatten werden immer komplexer und dichter best\u00fcckt, weniger Testpunkte bereitgestellt und neue Komponentengeh\u00e4use schr\u00e4nken die M\u00f6glichkeit, I\/O-Pins zu untersuchen, ein. Um eine kontinuierliche Verbesserung zu gew\u00e4hrleisten und bei einer Pr\u00fcfung von Ball Grid Array (BGA)-Komponenten auf dichtbest\u00fcckten Leiterplatten nicht auf die Testabdeckung verzichten zu m\u00fcssen, hat SPEA den Boundary-Scan-Test in seinen Nagelbett- und Flying-Probe-Testern eingef\u00fchrt.<\/p>\n<p>Boundary-Scan erm\u00f6glicht das Testen von Ger\u00e4ten und Verbindungen in Netzen, die mit JTAG-kompatiblen Komponenten auf der Platine verbunden sind, \u00fcber einen g\u00fcnstig gelegenen Testport. An Stellen, an denen Ger\u00e4te-I\/O-Pins unzug\u00e4nglich oder keine Testpunkte verf\u00fcgbar sind, erm\u00f6glicht Boundary-Scan den Ingenieuren ein hohes Ma\u00df an Testabdeckung aufrechtzuerhalten. Dank Boundary-Scan sind diese auch in der Lage genaue Diagnosen zu generieren, welche die Orte aller erkannten Fehler aufzeigen.<\/p>\n<p>Die Ingenieure von SPEA und XJTAG haben zusammengearbeitet, um herausragende Leistungen im Bereich der kombinierten Testplattformen zu gew\u00e4hrleisten und bestm\u00f6gliche Testf\u00e4higkeit sowie gr\u00f6\u00dftm\u00f6glichen Mehrwert f\u00fcr ihre Kunden bieten zu k\u00f6nnen.<\/p>\n<p>\u201eBoundary-Scan-Tests bieten mehrere St\u00e4rken, die das Know-how von SPEA auf dem Elektronik-Testmarkt erg\u00e4nzen\u201c, erkl\u00e4rt Stefano Ghib\u00f2, Technischer Vertriebsspezialist bei SPEA. \u201eXJTAG ist leistungsstark und einfach zu bedienen, was es uns erm\u00f6glicht, die Vorteile des integrierten Boundary-Scans f\u00fcr unsere Kunden zu maximieren.\u201c<\/p>\n<p>Um die Integration von Boundary-Scan und die Funktionalit\u00e4t von In-Circuit-Tests zu komplettieren, hat das SPEA-Team die gesamte Teststrategie zur Optimierung der Testzykluszeiten weiter verbessert. Das kombinierte System implementiert auch einen Testbericht, der die Daten aus den verschiedenen Testtechniken verbindet.\u201d<\/p>\n<p>Stefano Ghib\u00f2 beschreibt die Unterst\u00fctzung der Kunden bei ihren Projekten durch die Ingenieure beider Unternehmen als \u00fcberragend. \u201eUnsere Ingenieure stehen den Kunden bei Fragen gerne zur Verf\u00fcgung und helfen, ihre Testabdeckung f\u00fcr die zu pr\u00fcfenden Boards zu maximieren.\u201c<\/p>\n<p>Schwierige Zeiten k\u00f6nnen bevorstehen, da elektronische Schaltungen immer komplizierter werden. Aber: Die Zusammenarbeit zwischen f\u00fchrenden Anbietern hilft nicht nur, den Herausforderungen zu begegnen, denen sich Ingenieure heute stellen m\u00fcssen, sondern schafft auch Testl\u00f6sungen f\u00fcr die Zukunft.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>SPEA und XJTAG verbinden das Beste aus Flying-Probe und Boundary-Scan<\/p>\n","protected":false},"author":1577,"featured_media":41457,"template":"","meta":{"_acf_changed":false,"_relevanssi_hide_post":"","_relevanssi_hide_content":"","_relevanssi_pin_for_all":"","_relevanssi_pin_keywords":"","_relevanssi_unpin_keywords":"","_relevanssi_related_keywords":"","_relevanssi_related_include_ids":"","_relevanssi_related_exclude_ids":"","_relevanssi_related_no_append":"","_relevanssi_related_not_related":"","_relevanssi_related_posts":"","_relevanssi_noindex_reason":"","footnotes":""},"caseindustry":[151],"caselanguage":[],"caselocation":[234],"caseusecases":[128,217,123,218,213,219],"product":[],"class_list":["post-50335","case_studies","type-case_studies","status-publish","has-post-thumbnail","hentry","caseindustry-test-equipment","caselocation-italy","caseusecases-3rd-party-integration","caseusecases-ball-grid-arrays-bga","caseusecases-fault-diagnosis","caseusecases-high-density-pcb","caseusecases-production-test","caseusecases-test-coverage-analysis"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/case_studies\/50335","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/case_studies"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/case_studies"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1577"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/case_studies\/50335\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/41457"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=50335"}],"wp:term":[{"taxonomy":"caseindustry","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/caseindustry?post=50335"},{"taxonomy":"caselanguage","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/caselanguage?post=50335"},{"taxonomy":"caselocation","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/caselocation?post=50335"},{"taxonomy":"caseusecases","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/caseusecases?post=50335"},{"taxonomy":"product","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/product?post=50335"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}