Curtiss-Wright Controls Embedded Computing, ein f\u00fchrender Entwickler und Hersteller von handels\u00fcblichen COTS-Systemen und Board-Level-Produkten, nutzt das Boundary-Scan-Entwicklungssystem XJTAG, um das Debugging und Testen seiner Radar-, Video- und Grafikprodukte zu verbessern.<\/p>\n
Die Video- und Grafikgruppe von Curtiss-Wright entwickelt robuste und umweltfreundliche L\u00f6sungen f\u00fcr Kunden in den Bereichen Verteidigung, Luft- und Raumfahrt, Handel und Industrie. Das Know-how umfasst die Radar-Vorverarbeitung, Scan-Konvertierung, Verfolgung und Anzeige in Kombination mit TV-Video, Infrarot und Sonar sowie die Komprimierung, Dekomprimierung und Verteilung von Radar- und TV-Video \u00fcber weite und lokale Netzwerke.<\/p>\n
Die Produkte und L\u00f6sungen der Gruppe werden weltweit in Fahrzeug-, Luft- und Schiffssteuerungs-, Schiffsverfolgungs-, Flugsicherungs- und Luftverteidigungssystemen eingesetzt. Zu den Kunden z\u00e4hlen unter anderem BAE Systems, Boeing, DRS Technologies, die EDO Corporation, Lockheed Martin, Northrop Grumman und Raytheon.<\/p>\n
Die Ingenieure der Curtiss-Wright-Gruppe f\u00fcr Video- und Grafikprodukte in Letchworth, England, standen vor der Herausforderung, den Debugging- und Testprozess f\u00fcr das neueste Sortiment hochkomplexer BGA-best\u00fcckter Leiterplatten zu verbessern und suchten daf\u00fcr eine effektive Boundary-Scan-L\u00f6sung.<\/p>\n
\u201eWir haben das XJTAG-System aufgrund seines Preises, der Geschwindigkeit und Genauigkeit der Fehlerdiagnose ausgew\u00e4hlt und weil die wiederverwendbaren Testskripte von Projekt zu Projekt portiert werden k\u00f6nnen und \u00fcber Design, Prototyping bis zur Produktion und dar\u00fcber hinaus migriert werden k\u00f6nnen\u201c, sagte Alan McCormick, Gesch\u00e4ftsf\u00fchrer der Video- und Grafikgruppe von Curtiss-Wright.<\/p>\n
XJTAG wird jetzt zum Debuggen und Testen von Produkten wie der Sabre-Imaging-Plattform von Curtiss-Wright verwendet, die einen leistungsstarken PowerPC-Prozessor mit einer Multi-Head-, Multi-Layer-Grafikvideo- und Radaranzeigefunktion in einem einzigen VME-Steckplatz kombiniert.<\/p>\n
Es wird auch auf der Osiris-Radar-Schnittstellenkarte mit zwei Kan\u00e4len verwendet. \u201eMit XJTAG k\u00f6nnen wir sowohl Boundary-Scan- als auch Cluster-Komponenten auf unseren Sabre- und Osiris-Boards sehr schnell debuggen und testen. Viele dieser Komponenten sind f\u00fcr herk\u00f6mmliche Testmethoden wie Flugsonden, Logikanalysatoren, Oszilloskope und R\u00f6ntgensysteme nicht zug\u00e4nglich\u201c, f\u00fcgte Stuart Allen, leitender Hardware-Ingenieur bei Curtiss-Wrights Video- und Grafikgruppe, hinzu.<\/p>\n
Mit XJTAG k\u00f6nnen Ingenieure einen gro\u00dfen Teil der Schaltung testen, einschlie\u00dflich BGA- und Chip-Scale-Paketen wie SDRAMs, Ethernet-Controllern, Video-Interfaces, Flash-Speichern, FPGAs und Mikroprozessoren. Die M\u00f6glichkeit sowohl Boundary-Scan- als auch Cluster-Komponenten zu testen, bietet Ingenieuren zus\u00e4tzliche Flexibilit\u00e4t beim Entwurf von Tests f\u00fcr wichtige Teile der Platine.<\/p>\n
\u201eWir verwenden FPGAs auf vielen unserer Karten und mit dem XJTAG-Schaltkreisvisualisierungstool (XJAnalyser) k\u00f6nnen wir Tausende von Ger\u00e4te-Pins auf einer FPGA oder einer anderen JTAG-f\u00e4higen Komponente lesen, beschreiben und \u00fcberpr\u00fcfen, ob jeder Pin funktioniert oder nicht. Zudem wird \u00fcberpr\u00fcft ob es in der ersten Version des Produkts verwendet werden wird oder nicht\u201c, f\u00fcgte Stuart Allen hinzu, \u201eDiese F\u00e4higkeit ist sehr wertvoll.\u201c<\/p>\n
Das XJTAG-Entwicklungssystem ist eine kosteng\u00fcnstige L\u00f6sung zum Debuggen, Testen und Programmieren elektronischer Leiterplatten und Systeme \u00fcber den gesamten Produktlebenszyklus. Das XJTAG-System reduziert die Zeit und die Kosten f\u00fcr die Entwicklung und das Prototyping von Leiterplatten, indem es eine fr\u00fche Testentwicklung, eine fr\u00fchzeitige Designvalidierung von CAD-Netzlisten, die schnelle Generierung von hochfunktionellen Tests und die Wiederverwendung von Tests auf allen Schaltkreisen mit denselben Ger\u00e4ten erm\u00f6glicht.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
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