Der Cicor-Standort Bronschhofen hat mit dem XJTAG-System Boundary-Scan-Tests eingef\u00fchrt, um die Testabdeckung f\u00fcr dicht best\u00fcckte Boards zu erh\u00f6hen, die ansonsten schwer zu testen und zu inspizieren sind. Die integrierten Tests und grafischen Tools von XJTAG helfen dabei, schnell mit dem Testen von Boards zu beginnen, Defekte zu finden und zu reparieren sowie die Montageprozesse zu verfeinern, um die Leistungsrate zu erh\u00f6hen.<\/p>\n
Das Portfolio an Electronic Manufacturing Services (EMS) von Cicor umfasst die Best\u00fcckung komplexer Leiterplatten (PCBA), gedruckter Elektronik, Hybridschaltungen und Substrate sowie mikroelektronische Best\u00fcckung und Kunststoffspritzguss.<\/strong><\/p>\n Der Cicor-Standort Bronschhofen wird immer h\u00e4ufiger gebeten bei der Herstellung kleinerer und dichter besiedelter oberfl\u00e4chenmontierter Baugruppen f\u00fcr Kunden zu helfen, die zus\u00e4tzliche Funktionen und F\u00e4higkeiten in ihre Designs aufnehmen m\u00f6chten. SMT-Fertigungsprozesse an die Grenzen zu bringen, um diese Baugruppen herzustellen, bedeutet, dass es extrem wichtig und gleichzeitig immer schwieriger wird, Defekte zu finden.<\/p>\n \u201eBei jeder neuen Generation von Baugruppen k\u00f6nnen wir mit Sonden oder einer Inspektionskamera nur einen geringeren Anteil der Schaltung erreichen\u201c, sagt Christian Bodmer, Leiter Testtechnik bei Cicor. \u201eTraditionelle Testtechniken bleiben zunehmend hinter unseren Anforderungen zur\u00fcck, um die Testabdeckungsziele mit h\u00f6herer Komponentendichte und der Anzahl der vorhandenen BGA-Komponenten zu erf\u00fcllen.\u201c<\/p>\n Als Reaktion auf die Herausforderung entschied sich Cicor f\u00fcr die Einf\u00fchrung von Boundary-Scan-Tests und investierte in das XJTAG-Entwicklungssystem mit zus\u00e4tzlichen XJRunner-Lizenzen f\u00fcr den Einsatz in Produktionsumfeld. Die Boundary-Scan-Tests finden nach In-Circuit-Tests (ICT) und Funktionstests statt.<\/p>\n Das XJTAG-System generiert automatisch Boundary-Scan-Testvektoren, die den Benutzern einen schnellen Einstieg mit minimalen Kenntnissen der zugrunde liegenden Standards erm\u00f6glichen. Integrierte Tests wie der erweiterte Verbindungstest von XJTAG erm\u00f6glichen es Benutzern, bei Bedarf sofort mit dem Testen ihrer Boards zu beginnen.<\/p>\n Eine gro\u00dfe Bibliothek mit vorgefertigten Tests ist f\u00fcr g\u00e4ngige Nicht-JTAG-ICs verf\u00fcgbar und die Tests k\u00f6nnen auch dann beginnen, wenn die Board-Netzliste nicht verf\u00fcgbar ist. Die gebrauchsfertigen Tests von XJTAG f\u00fcr I2<\/sup>C-Komponenten haben Christian Bodmer und dem Team geholfen, Komponenten wie Beschleunigungsmesser, Echtzeituhren und EEPROMs auf den Boards der Kunden einfach zu testen.<\/p>\n \u201eXJTAG l\u00e4sst sich auch gut in National Instruments\u2122 TestStand\u2122 integrieren, unsere bevorzugte Umgebung f\u00fcr die Erstellung und Verwaltung von Tests\u201c, erkl\u00e4rt Christian Bodmer. Dies liegt daran, dass Benutzer einfachen Zugriff auf eine Reihe von Virtual Instruments (VIs) und TestStand-Sequenzen haben, die im System installiert sind und auf der XJIntegration .NET-Schnittstelle von XJTAG basieren. Dies bietet die Flexibilit\u00e4t Tests unabh\u00e4ngig voneinander auszuf\u00fchren oder andere Testtechnologien zu integrieren.<\/p>\n Die XJTAG-Benutzeroberfl\u00e4che ist leicht verst\u00e4ndlich und erleichtert die Projekteinrichtung. Die integrierte Entwicklungsumgebung XJDeveloper und der XJRunner-Produktionstester enthalten auch integrierte Schematic- und Layout-Viewer, die beim Debuggen von Tests sowie bei der Lokalisierung der Fehler in den getesteten Einheiten helfen. Diese Viewer sind einfach zu starten und zeigen die genauen Fehlerorte an, was die Nacharbeit beschleunigt. XJDeveloper enth\u00e4lt auch einen Waiveform-Viewer, der bei der Fehlerbehebung bei der Testentwicklung hilft.<\/p>\n \u201eDas Testen mit XJTAG Boundary Scan liefert hervorragende Informationen zum Auffinden von Fehlern in den zu testenden Einheiten, um das Reparaturteam zu leiten und die Produktivit\u00e4t zu maximieren\u201c, stimmt Tobias M\u00fcller, Testingenieur bei Cicor, zu. \u201eWir nutzen die XJTAG-Testergebnisse auch, um die Verbesserung des Fertigungsprozesses voranzutreiben. Zum Beispiel konnten wir einen L\u00f6tparameter optimieren, nachdem die XJTAG-Tools dazu beigetragen hatten, schlecht gel\u00f6tete Stifte zu identifizieren.\u201c<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":" Der Cicor-Standort Bronschhofen hat mit dem XJTAG-System Boundary-Scan-Tests eingef\u00fchrt, um die Testabdeckung f\u00fcr dicht best\u00fcckte Boards zu erh\u00f6hen, die ansonsten schwer zu testen und zu inspizieren sind. 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