La inversi\u00f3n en XJTAG test por Boundary Scan evita a IKOR la inspecci\u00f3n por rayos-X para verificar las conexiones en lugares como la parte inferior de los componentes BGA. XJTAG est\u00e1 ya integrado en la estrategia de test en IKOR permitiendo a sus ingenieros conseguir mayores objetivos de testeabilidad por lo que anima a sus clientes a utilizar DFT (Design For Test) de XJTAG en sus nuevos dise\u00f1os.<\/p>\n
El grupo IKOR es una empresa internacional dedicada al dise\u00f1o y fabricaci\u00f3n de circuitos electr\u00f3nicos con plantas de fabricaci\u00f3n en San Sebasti\u00e1n, M\u00e9jico y China. Su servicio t\u00e9cnico incluye validaci\u00f3n del dise\u00f1o, test de las tarjetas PCB y pre-certificaci\u00f3n de productos innovadores abarcando sectores como automoci\u00f3n, energ\u00eda, transporte, electrodom\u00e9sticos, control de accesos, elevaci\u00f3n, metering, etc…<\/p>\n
La empresa en los procesos de fabricaci\u00f3n y test da prioridad a la rapidez, eficacia y alta calidad en los productos para sus clientes. Una combinaci\u00f3n de Inspecci\u00f3n \u00d3ptica Autom\u00e1tica (AOI), test en circuito (ICT) y test funcional son normalmente aplicados para conseguir optimizar la cobertura de test en cada tipo de producto.<\/p>\n
AOI puede identificar defectos elementales como componentes incorrectamente colocados, no depositados o puntos de pobre soldadura para evitar el avance de las placas con defecto hacia la ICT y el test funcional. Sin embargo componentes en encapsulado BGA que tienen pines I\/O ocultos no pueden ser inspeccionados con AOI ni testeados usando combinaci\u00f3n de cama de agujas e ICT.<\/p>\n
Para resolver este problema, IKOR dispone de una m\u00e1quina de rayos-X que le permite identificar defectos como corto circuitos y circuitos abiertos en los pines I\/O de las BGA. Sin embargo los equipos de rayos-X son relativamente caros y puede haber restricciones legales que regulen su uso. Adem\u00e1s programar la m\u00e1quina de rayos-X y analizar las im\u00e1genes puede llevar un tiempo excesivo. Los ingenieros de IKOR necesitan una herramienta m\u00e1s r\u00e1pida y f\u00e1cil de usar para localizar estos fallos dif\u00edciles de encontrar.<\/p>\n
\u201cEl test por Boundary Scan no requiere acceso individual a cada pin I\/O del componente y las herramientas de test se pueden conseguir a un relativo bajo coste comparado con los equipos de rayos-X\u201d explica Cristina Jaureguibeitia ingeniera de test en el departamento t\u00e9cnico de IKOR en San Sebasti\u00e1n. \u201cNosotros evaluamos varios sistemas Boundary Scan alternativos y XJTAG nos pareci\u00f3 el m\u00e1s f\u00e1cilmente manejable para el usuario. XJTAG tambi\u00e9n nos ofrece las funciones que nosotros necesitamos al mejor precio.\u201d<\/p>\n
XJTAG proporciona vista gr\u00e1fica de las cadenas \u201cboudary scan\u201d mostrando los pines I\/O y las conexiones \u201cpin a pin\u201d para mejorar la visualizaci\u00f3n del circuito y la velocidad de debugging. Caracter\u00edsticas como \u201cGolden Scan\u201d que es una comparaci\u00f3n entre placa buena y placa a testear, visi\u00f3n de los pines, zoom\/salto de pantalla y proceso paso a paso ayudan a los dise\u00f1adores a depurar las placas con mucha rapidez. Compilar el test es algo que se hace tambi\u00e9n de manera directa usando un lenguaje de programaci\u00f3n en alto nivel para crear ficheros de test centrado en componentes. Estos se pueden salvar y ser usados para test en futuras placas que contienen el mismo componente.<\/p>\n
Usar XJTAG ha servido a IKOR para evitar tener que testear las BGAs por otros procedimientos. Adem\u00e1s Cristina Jaureguibeitia y su equipo t\u00e9cnico en IKOR est\u00e1n usando tambi\u00e9n ahora XJTAG para otras mejoras en el proceso de test. Por Boundary Scan se puede testear un alto porcentaje de todos los componentes e interconexiones y XJTAG dispone de recursos adicionales para testear componentes no conectados a la cadena Boundary Scan. Tambi\u00e9n dispone de un f\u00e1cil de usar DFT (Design For Test ) que nos ayuda a conseguir grandes objetivos en la cobertura de test.<\/p>\n
\u201cUn adecuado dise\u00f1o del circuito teniendo en cuenta la testeabilidad en los primeros pasos del ciclo de vida del producto puede incrementar en gran medida la cobertura de test que se puede conseguir mediante Boundary Scan. Nosotros animamos a nuestros clientes a usar estos mismos principios en sus dise\u00f1os originales.\u201d<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
IKOR aumenta el valor a\u00f1adido para sus clientes eligiendo XJTAG Boundary Scan<\/p>\n","protected":false},"author":1577,"featured_media":41413,"template":"","meta":{"_acf_changed":false,"_relevanssi_hide_post":"","_relevanssi_hide_content":"","_relevanssi_pin_for_all":"","_relevanssi_pin_keywords":"","_relevanssi_unpin_keywords":"","_relevanssi_related_keywords":"","_relevanssi_related_include_ids":"","_relevanssi_related_exclude_ids":"","_relevanssi_related_no_append":"","_relevanssi_related_not_related":"","_relevanssi_related_posts":"","_relevanssi_noindex_reason":"","footnotes":""},"caseindustry":[149],"caselanguage":[179,180,171],"caselocation":[241],"caseusecases":[217,124,216,220],"product":[54],"class_list":["post-50297","case_studies","type-case_studies","status-publish","has-post-thumbnail","hentry","caseindustry-electronics-manufacturing-cem-ems","caselanguage-english-a4","caselanguage-english-us-letter","caselanguage-spanish","caselocation-spain","caseusecases-ball-grid-arrays-bga","caseusecases-circuit-visualisation","caseusecases-design-for-test","caseusecases-fast-test-development","product-xjanalyser"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/case_studies\/50297","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/case_studies"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/case_studies"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1577"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/case_studies\/50297\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media\/41413"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=50297"}],"wp:term":[{"taxonomy":"caseindustry","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/caseindustry?post=50297"},{"taxonomy":"caselanguage","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/caselanguage?post=50297"},{"taxonomy":"caselocation","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/caselocation?post=50297"},{"taxonomy":"caseusecases","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/caseusecases?post=50297"},{"taxonomy":"product","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/product?post=50297"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}