\u00adBSE Electronic, l’un des principaux fournisseurs europ\u00e9ens de services de fabrication haute technologie, a choisi XJTAG boundary-scan comme moyen d\u2019investigation efficace des cartes complexes avant les tests ICT et fonctionnels. Depuis qu’il a \u00e9t\u00e9 install\u00e9, le syst\u00e8me a contribu\u00e9 \u00e0 une couverture de test bien au-del\u00e0 des attentes initiales de l’entreprise.<\/p>\n
BSE Electronic est un fournisseur de solutions globales de haute technologie comprenant R&D, conception, ing\u00e9nierie de test, assemblage, int\u00e9gration, logistique et support apr\u00e8s-vente. La soci\u00e9t\u00e9 offre une expertise couvrant l\u2019\u00e9lectronique, l’informatique et les sous-syst\u00e8mes m\u00e9caniques \u00e0 partir de son si\u00e8ge social bas\u00e9 \u00e0 Le Creusot, en France, et dispose de sites de fabrication en Tunisie et en Chine.<\/p>\n
Pour assurer une qualit\u00e9 et fiabilit\u00e9 \u00e9lev\u00e9e permanente des produits, BSE utilise diff\u00e9rentes techniques de test, y compris l’inspection optique de chaque assemblage \u00e9lectronique, avant le test in situ et les tests fonctionnels utilisant des stations de test sp\u00e9cifiques.<\/p>\n
\u00ab Notre pratique \u00e9tablie est d\u2019inspecter les cartes apr\u00e8s soudure \u00e0 l’aide de syst\u00e8me optique, pour \u00e9viter d’avoir \u00e0 effectuer des tests in situ et fonctionnels sur les unit\u00e9s pr\u00e9sentant des d\u00e9fauts \u00e9vidents, \u00bb a d\u00e9clar\u00e9 Patrick Guerinel, Directeur Commercial de BSE. \u00ab Avec le nombre croissant de composants BGA dont les broches E\/S se trouvent sous le bo\u00eetier, la couverture que nous pouvons r\u00e9aliser \u00e0 l’aide d’inspection optique a diminu\u00e9. Nous avons d\u00e9cid\u00e9 d\u2019am\u00e9liorer cette couverture en utilisant un syst\u00e8me boundary-scan pour tester des cartes soud\u00e9es, et nous avons choisi XJTAG apr\u00e8s avoir \u00e9valu\u00e9 de multiples alternatives. Dans la pratique, le syst\u00e8me a fourni des capacit\u00e9s d’analyse beaucoup plus importantes que ce \u00e0 quoi nous nous attendions. \u00bb<\/p>\n
En guise d\u2019illustration, il d\u00e9crit l’une des premi\u00e8res cartes \u00e0 \u00eatre test\u00e9e avec XJTAG, comprenant un syst\u00e8me CPU embarqu\u00e9 \u00e0 base de FPGA, un certain nombre de puces m\u00e9moire, des composants discrets \u00e0 signaux mixtes, et des convertisseurs A\/D et D\/A. \u00ab XJTAG nous permet de simuler les signaux de bus, ce qui permet de v\u00e9rifier les m\u00e9moires Flash et SDRAM connect\u00e9es au FPGA, m\u00eame si elles ne sont pas connect\u00e9es \u00e0 la cha\u00eene boundary-scan. Nous pouvons \u00e9galement v\u00e9rifier les sorties de l’alimentation \u00e9lectrique r\u00e9glable \u00e0 partir du syst\u00e8me XJTAG, en utilisant un convertisseur A\/D sur la carte. \u00bb<\/p>\n
XJTAG offre des fonctionnalit\u00e9s uniques qui permettent aux ing\u00e9nieurs d’utiliser des composants embarqu\u00e9s tels que des convertisseurs A\/D pour analyser des r\u00e9ponses \u00e0 partir de composants qui ne peuvent \u00eatre test\u00e9s en utilisant un syst\u00e8me boundary-scan traditionnel. Il est possible d\u2019\u00e9crire des tests personnalis\u00e9s en utilisant XJEase, le langage de haut niveau de XJTAG, afin de contr\u00f4ler des composants individuels. XJTAG comprend \u00e9galement des librairies pour manipuler des interconnexions standard de l’industrie, tels qu\u2019I2C ou SPI. Cela permet au syst\u00e8me de communiquer avec une grande vari\u00e9t\u00e9 de composants analogiques et \u00e0 signaux mixtes, ainsi que des composants num\u00e9riques JTAG ou non-JTAG.<\/p>\n
La s\u00e9rie XJTAG XTR, syst\u00e8me boundary-scan de deuxi\u00e8me g\u00e9n\u00e9ration qui a \u00e9t\u00e9 introduite en Janvier 2010, \u00e9tend les capacit\u00e9s existantes du syst\u00e8me XJTAG. Capable de mesurer directement jusqu’\u00e0 18 tensions analogiques, elle permet l\u2019\u00e9chantillonnage de plusieurs niveaux de tensions avant ou pendant le test. Le nouveau syst\u00e8me est \u00e9galement capable de mesurer les fr\u00e9quences d’horloge avec une pr\u00e9cision de 10 ppm jusqu’\u00e0 200 MHz et supporte de multiples cha\u00eenes JTAG.<\/p>\n
Faire usage des capacit\u00e9s de test \u00e9tendues du syst\u00e8me XJTAG a permis aux ing\u00e9nieurs de BSE d\u2019investiguer des cartes assembl\u00e9es de fa\u00e7on plus rigoureuse que l’inspection optique n\u2019aurait jamais permis. Selon Patrick Gu\u00e9rinel, les projets \u00e0 venir permettront d’atteindre une couverture de test encore plus grande. « Avec la mise en \u0153uvre de meilleures pratiques de conception et de l’analyse DFT int\u00e9gr\u00e9e \u00e0 XJTAG, nous serons en mesure de tester la plupart des \u00e9l\u00e9ments de chaque syst\u00e8me \u00e0 l’aide de boundary-scan. Cela nous permettra de stimuler la productivit\u00e9 tout en cr\u00e9ant encore plus de valeur pour nos clients \u00bb, conclut-il.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
BSE Electronic, sous-traitant global en \u00e9lectronique augmente sa productivit\u00e9 avec XJTAG Boundary-Scan<\/p>\n","protected":false},"author":1577,"featured_media":41388,"template":"","meta":{"_acf_changed":false,"_relevanssi_hide_post":"","_relevanssi_hide_content":"","_relevanssi_pin_for_all":"","_relevanssi_pin_keywords":"","_relevanssi_unpin_keywords":"","_relevanssi_related_keywords":"","_relevanssi_related_include_ids":"","_relevanssi_related_exclude_ids":"","_relevanssi_related_no_append":"","_relevanssi_related_not_related":"","_relevanssi_related_posts":"","_relevanssi_noindex_reason":"","footnotes":""},"caseindustry":[149],"caselanguage":[179,180,172,174],"caselocation":[229],"caseusecases":[217,216,219],"product":[],"class_list":["post-50299","case_studies","type-case_studies","status-publish","has-post-thumbnail","hentry","caseindustry-electronics-manufacturing-cem-ems","caselanguage-english-a4","caselanguage-english-us-letter","caselanguage-french","caselanguage-italian","caselocation-france","caseusecases-ball-grid-arrays-bga","caseusecases-design-for-test","caseusecases-test-coverage-analysis"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/case_studies\/50299","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/case_studies"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/case_studies"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1577"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/case_studies\/50299\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media\/41388"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=50299"}],"wp:term":[{"taxonomy":"caseindustry","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/caseindustry?post=50299"},{"taxonomy":"caselanguage","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/caselanguage?post=50299"},{"taxonomy":"caselocation","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/caselocation?post=50299"},{"taxonomy":"caseusecases","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/caseusecases?post=50299"},{"taxonomy":"product","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.xjtag.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/product?post=50299"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}