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ニュース記事

Nikkei – November 2016

米ケイデンス・デザイン・システムズ、OrCAD Capture向けXJTAG DFT Assistantを発表

2016年11月8日、米国カリフォルニア州サンノゼ市 — ケイデンス・デザイン・システムズ社(NASDAQ: CDNS)は、OrCAD® Captureが、回路図入力およびプリント基板設計システムのDesign For Test(DFT)及びデバッグ機能を大幅に向上する利便性の高いインターフェイスであるXJTAG® DFT Assistantを統合し、強化されたことを発表しました。 バウンダリスキャンのハードウェア、およびソフトウェアツールを供給するXJTAG社によって開発されたXJTAG DFT Assistantによって、PCB製造前の設計段階でJTAG不具合を検出し修正することができるようになり、設計のリスピンやプロジェクトの遅延を回避することが可能になります。
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富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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