Neues XJTAG® DFT-Assistant-Tool für OrCAD® Capture

XJTAG Cadence Fallstudie

Von der Firma XJTAG® entwickelt, wird diese kostenlose App für OrCAD® Capture die „Design for Test“- und Debug-Fähigkeiten des schematischen Capture- und Leiterplatten-Design-Systems deutlich erhöhen.

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Wir müssen frühzeitig in der Designphase feststellen, wie die Testabdeckung mit der minimalen Anzahl von Testpunkten maximiert werden kann. Daher ist es entscheidend, zu wissen, welchen JTAG-Zugang in der schematischen Phase zur Verfügung steht. Der XJTAG DFT-Assistent für OrCAD Capture erleichtert es uns, die Testabdeckung bei der Entwicklung des Designs vorauszusehen. So können wir unsere Tests optimieren, bevor die Leiterplatte hergestellt wird.

Urs Allemann, Leiter Design Services – ed electronic design ag (Schweiz)

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