ETEL nutzt XJTAG für Debugging und Test von Bewegungssteuerungen

ETEL, ein weltweit führender Anbieter von Direktantriebssteuerungskomponenten und integrierten Systemen hat das XJTAG-Boundary-Scan-Entwicklungssystem ausgewählt, um komplexe Leiterplatten, die in seinem marktführenden Angebot an fortschrittlichen, digitalen Bewegungssteuerungen eingesetzt werden, zu debuggen und zu testen.

Um das bereits umfangreiche Sortiment an Prüfgeräten zu ergänzen und sicherzustellen, dass die Produkte weiterhin anspruchsvolle Qualitätsstandard, ETELs eigene und die der Kunden, erfüllen, wurde das XJTAG-System im 12.000 m² großen Ingenieur- und Fertigungszentrum in Môtiers in der Schweiz eingeführt.

Das XJTAG-Entwicklungssystem ist eine kostengünstige, gebrauchsfertige Lösung zum Debuggen, Testen, Programmieren und Instandhalten von elektronischen Leiterplatten und Systemen über den gesamten Produktlebenszyklus. Das XJTAG-System reduziert Zeit und Kosten der Leiterplatten-Entwicklung und des Prototypings, indem es eine frühzeitige Testentwicklung und Designvalidierung von CAD-Netzlisten, eine rasche Generierung von hochfunktionellen Tests und eine Testwiederverwendbarkeit über Schaltungen derselben Geräte ermöglicht.

Das XJTAG-System wird von den Ingenieuren bei ETEL zur Beschleunigung und Verbesserung des Debuggens und Testens von Leiterplatten, die in den fortschrittlichen digitalen Bewegungssteuerungen wie den DSGAT- und DSMAX3-Produkten und mehrere BGA-Komponenten enthalten, eingesetzt. Das XJTAG-System wird auch für die Produktionsprüfung bei den ETEL-Vertragspartnern eingesetzt.

ETEL hat sich für das XJTAG-System entschieden, weil es einfach zu bedienen und wettbewerbsfähig ist, sowie eine auf dem Markt einzigartige Geschwindigkeit und Genauigkeit der Fehlerdiagnose bietet. Darüber hinaus wird die Test-IP beibehalten, da die gerätezentrischen Test-Scripts, die mit der Programmiersprache XJEase geschrieben wurden, von Projekt zu Projekt portiert und in der Entwurfs- und Prototyping-Phase bis hin zur Produktion und darüber hinaus wiederverwendet werden können.

Dieser gerätezentrische Ansatz ermöglicht es Anwendern, Bibliotheken von Test-Scripts für einzelne Geräte zu sammeln, die bei zukünftigen Designs, in denen immer dieselbe oder eine ähnliche Komponente verwendet wird, leicht wiederverwendet werden können.

Vorbereitete Testskripts für eine große Anzahl gängiger Komponenten können auch von der XJTAG-Website heruntergeladen werden, um die Testentwicklung weiter zu optimieren. Christophe Meier, Forschungs- und Entwicklungsingenieur bei ETEL, sagte: „Das XJTAG-Boundary-Scan-System verfügt auch über ein grafisches JTAG-Analyse- und Debugging-Tool, das es unseren Ingenieuren ermöglicht, unter die Komponente zu schauen und die Anschlüsse der BGA-Komponenten auf unseren neuesten Leiterplatten zu überprüfen. Dies ist wichtig, da diese Geräte typischerweise für herkömmliche Testmethoden wie Flying-Probe, Logikanalysatoren, Oszilloskope und Röntgensysteme nicht zugänglich sind.”

XJTAG ermöglicht es Ingenieuren, einen hohen Anteil der Schaltung (Boundary-Scan- und Cluster-Komponenten) als auch BGA- und Chip-Scale-Gehäuse wie SDRAMs, Ethernet-Controller, Video-Schnittstellen, Flash-Speicher, Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) und Mikroprozessoren zu testen. XJTAG ermöglicht zudem die In-System-Programmierung von FPGAs, CPLDs (Complex Programmable Logic Devices) und Flash-Speichern.

Das XJTAG-System ergänzt unser bereits umfangreiches Sortiment an Testgeräten und sorgt dafür, dass unsere Produkte weiterhin unsere eigenen und die anspruchsvollen Qualitätsstandards unserer Kunden erfüllen. Das XJTAG-Boundary-Scan-System verfügt auch über ein grafisches JTAG-Analyse- und Debugging-Tool, das es unseren Ingenieuren ermöglicht, unter die Komponente zu schauen und die Anschlüsse auf BGA-Komponenten auf unseren neuesten Leiterplatten zu überprüfen. Dies ist wichtig, da diese Geräte typischerweise für herkömmliche Testmethoden wie Flying-Probe, Logikanalysatoren, Oszilloskope und Röntgensysteme nicht zugänglich sind.

Christophe Meier, Forschungs- und Entwicklungs­ingenieur – ETEL

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