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16 July 2019

XJTAG erweitert die Möglichkeiten des Boundary Scan-Test

XJTAG kündigt die Veröffentlichung seiner neuesten Software an, mit der Ingenieure bessere Testprogramme entwickeln und effizienter arbeiten können. Mit XJTAG 3.9 wird eine neue API eingeführt, mit der Boundary-Scan-Funktionen zur individuellen Pin-Kontrolle in den eigenen Testcode eines Entwicklers integriert werden können. Dies ermöglicht konfigurierbare Optionen für die maximale Wiederverwendung und datenreiche Protokolldateien, die für vorhandene Systeme jetzt noch einfacher zu analysieren sind.
XJTAG Boundary Scan (JTAG) Version 3.9
20 November 2018

XJTAG wird von DESIGN&ELEKTRONIK zum Innovator des Jahres 2018 ausgezeichnet

XJTAG hat den DESIGN&ELEKTRONIK Award als Innovator des Jahres für den XJTAG DFT Assistant erhalten. Das XJTAG-Plugin ermöglicht es Ingenieuren, Fehler in der Kettenkonnektivität bereits in der Designphase zu erkennen und so den gesamten Prozess vom Design bis zur Produktion zu beschleunigen. Das Plugin ist frei verfügbar für den Einsatz von EDA-Programmen der Firmen Altium, Cadence, Mentor und Zuken.
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XJTAG Innovator of the Year Award
08 November 2018

XJTAG kündigt v3.8 für intelligentere und schnellere Testentwicklung auf Electronica 2018 an

XJTAG kündigt bedeutende Updates mit XJTAG v3.8 an. Die neueste Version des Boundary-Scan-Systems bietet intelligenteres Debugging, einfachere Programmierung und bessere Testabdeckung.

Veröffentlicht auf:  Channel-e   |   MessWeb

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XJTAG Boundary Scan Version 3.8
22 February 2018

XJTAG kündigt DFT-Assistant für Zuken CR-8000 PC-Design-Suite an

Zuken® und XJTAG® veröffentlichen kostenloses Design-for-Test (DFT)-Plugin für Zukens CR-8000 Design Gateway auf der Embedded World 2018 in Nürnberg. Der XJTAG DFT-Assistant unterstützt die Validierung der korrekten JTAG-Kettenkonnektivität, während der Boundary-Scan-Zugriff und die Abdeckung des Schaltplans durch die vollständige Integration mit CR-8000 angezeigt werden. Der XJTAG DFT-Assistant für das Design-Gateway CR-8000 von Zuken macht es einfach, den Testzugang bereits bei der Entwicklung des Designs zu sehen. Dadurch können Ingenieure die Tests schon vor der Herstellung ihrer Leiterplatten erheblich optimieren.“
XJTAG DFT Assistant for Zuken CR-8000 plugin
08 November 2017

Systech Europe und XJTAG bieten erweitertes Testen

XJTAG und Systech Europe, ein führender europäischer Anbieter von elektronischen Testlösungen, gaben heute die Verfügbarkeit einer integrierten Lösung, XJTAG-Boundary-Scan und Takaya-Flying-Probe, bekannt.

Veröffentlicht auf:  All About Test   |   Channel-e

XJTAG Systech Europe Takaya flying probe integration press release
28 September 2017

Schnellere Test-Entwicklung für Elektronik mit XJTAG Boundary Scan v3.6

XJTAG hat ein bedeutendes Update für seine Flaggschiff-Software, XJDeveloper, gelaunched. V3.6 umfasst mehrere neue, auf Produktivität und Automatisierung fokussierte Erweiterungen, die es Ingenieuren ermöglichen auch komplexeste Leiterplatten in deutlich weniger Zeit zu testen.

Veröffentlicht auf:  All About Test   |   Channel-e

XJTAG Boundary Scan v3.6

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