Novatel amplia l’offerta con la soluzione di test XJTAG

Novatel, fornitore di elettronica, è stata attratta dalla soluzione boundary scan conveniente e user-friendly offerta da XJTAG, che ora viene normalmente utilizzata per tutto il ciclo produttivo, dai test iniziali all’eventuale riparazione della scheda.

L’azienda utilizzava già una selezione di strumenti di test, tra cui ispezione ottica, raggi-x, test In-Circuit, flying probe e test funzionali. Ma ora, la soluzione boundary scan di XJTAG sta aiutando Novatel ad ampliare significativamente la propria offerta, consentendo di testare accuratamente anche schede popolate da componenti Ball Grid Array (BGA), che non possono essere testati con metodi tradizionali.

“XJTAG ci permette anche di soddisfare le esigenze attuali dei nostri clienti in merito ai tempi di sviluppo. Questo è molto utile, soprattutto se si devono testare delle schede prototipo”, afferma Mario Gallo, Engineering Test Manager di Novatel. “Pensiamo che XJTAG offra la soluzione migliore, in termini di prestazioni, velocità di sviluppo e costi. Inoltre, lo staff tecnico è molto disponibile ed efficace nel supporto ai clienti.”

Come spiega Mario, Novatel ha selezionato la soluzione boundary scan di XJTAG perché essa offre un affidabile ed elevato livello di copertura di test ad un prezzo molto competitivo. La soluzione è efficiente perché può essere utilizzata in tutto il ciclo di vita della scheda – dalla progettazione alla produzione. Ciò significa che i guasti possono essere rilevati in fase embrionale, e ciò contribuisce a ridurre il tempo necessario per eseguire il debug della scheda. XJTAG rende anche più facile scrivere routine di test per i componenti e permette agli utenti di memorizzarle in una libreria, in modo che, per componenti simili, possano essere riutilizzate senza ulteriori modifiche. Secondo Mario, “l’aspetto più prezioso di XJTAG è la capacità di raggiungere rapidamente una migliore copertura test.”

Mario aggiunge che XJTAG è attual-mente utilizzato su una stazione di test standalone sia per i test di produzione in cui l’accessibilità alla scheda è bassa, sia e per la riparazione delle schede difettose precedentemente scartate. In futuro, Novatel vorrebbe integrare XJTAG con il test In-Circuit (ICT) e con le stazioni di test funzionali basate su LabVIEW. Si pensa, inoltre, di estendere anche ai fornitori l’utilizzo di XJRunner, la piattaforma di XJTAG dedicata alla produzione.

“Attualmente stiamo testando una scheda con un microcontrollore a 32 bit con un core ARM Cortex™-M3 CPU (ST Microelectronics STM32F103)”, dice Mario. “Questo progetto è molto importante per noi poiché ci permette di ottimizzare il ciclo di test e rendere il prodotto più competitivo ed affidabile. Per testare questa scheda usiamo anche una scheda XJIO che ci dà dei canali aggiuntivi sia analogici che digitali per stimolare e misurare i componenti sulla scheda.”

Il sistema di sviluppo boundary scan di XJTAG, potente e di facile utilizzo, risponde alla crescente necessità del mercato di soluzioni convenienti per il test di schede popolate da componenti JTAG, come ad esempio i BGA.

XJTAG può testare una elevata percentuale di un circuito (con componenti sia JTAG che non) inclusi BGA, SDRAM, controller Ethernet, interfacce video, memorie Flash, FPGA, microprocessori e molti altri componenti. XJTAG consente, inoltre, anche la programmazione in-system di FPGA, CPLD e memorie Flash.

XJTAG ci permette di soddisfare le esigenze attuali dei nostri clienti in merito ai tempi di sviluppo. Questo è molto utile, soprattutto se si devono testare delle schede prototipo.

Pensiamo che XJTAG offra la soluzione migliore, in termini di prestazioni, velocità di sviluppo e costi. Inoltre, lo staff tecnico è molto disponibile ed efficace nel supporto ai clienti.

L’aspetto più prezioso di XJTAG è la capacità di raggiungere rapidamente una migliore copertura test.

Mario Gallo, Engineering Test Manager – Novatel

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