ARM选择XJTAG调试和测试RealView开发工具

ARM®, 这个全球领先的半导体知识产权(IP)供应商,使用XJTAG边界扫描开发系统,减少了开发RealView开发工具的时间和成本,改善和­­­­加快了其高密度,多层开发板的调试和测试过程。

为了支持公司的SoC IP,ARM已建立了强大的开发工具,软件和硬件产品基础。例如,它的RealView®系列开发解决方案是为客户提供以ARM处理器为基础设计产品的理想系统,并且适用于建筑和CPU评估,硬件和软件设计,和ASIC仿真。这些开发平台通常是非常复杂的,高密度,12至16层电路板设计,包含多个高密度引脚数量的球栅阵列(BGA)设备,包括处理器,ASIC,FPGA和CPLD器件。

ARM平台开发系统部门的工程经理Spencer Saunders说:“我们的开发平台被广泛地用于设计业务,并可以显著的为我们的合作伙伴降低风险和加快产品投入市场的时间。每个板子上有数以十万计的引脚,我们认识到,如果不使用边界扫描测试系统,我们将无法在有限的时间内验证这些电路。”

在评估不同的有竞争力的选择后,ARM在英国剑桥的发展组的工程团队,选择了XJTAG边界扫描开发系统。XJTAG系统使ARM加快了调试和测试过程,得到高达约90%的测试覆盖率并显著的提高了生产力。

ARM平台开发系统高级产品工程师Andy Evans说“XJTAG提供了令人难以置信的力量,性能和通用性,可以同时测试边界扫描(JTAG)集群(非JTAG)设备,包括BGA和芯片级封装。

XJTAG很容易使用,测试非JTAG器件的脚本根据自上而下的设计流程,而且这些测试脚本是以设备为中心的,他们可从项目到项目重复使用,从而节省了ARM很多时间。”

ARM目前将XJTAG用于其最新一代的RealView平台底板,而且,由于其内置的测试设计(DFT)的功能,它已被用于从最开始的设计过程中,以帮助改善设计并降低返工。

“XJTAG的的DFT能力是非常强大的,为我们节省了大量的时间,因为它会自动处理网表的变化,适应新的电路的连接,从而避免了耗时的过程,手工采摘的网表的错误”,Spencer Saunders说。

“此外,XJTAG强大的电路的可视化工具为我们提供了用一个简单的图形视图横跨多个BGA设备的所有JTAG引脚的状态,并使我们能够迅速确定我们电路板上的具体的故障加快整个调试过程。”

ARM和RealView是ARM有限公司的注册商标。所有其它品牌或产品名称是其各自持有人的财产。“ARM”用于代表ARM Holdings plc,其经营公司ARM Limited以及各地的分支机构,包括:ARM INC.; ARM KK,ARM(韩国)有限公司,ARM台湾,ARM法国SAS,ARM咨询(上海)有限公司; ARM比利时N.V.; AXYS设计自动化公司; AXYS有限公司,ARM嵌入式解决方案Pvt.有限公司和ARM物理IP,公司和ARM挪威AS。

XJTAG边界扫描系统是一个非常强大,灵活和高成本效益的产品,这使ARM能改善和加快其RealView开发工具的调试和测试过程。

由于试用XJTAG,我们现在已经接近达到了我们的目标,90%的测试覆盖率10分钟每板的生产测试,但我们也有一个边界扫描系统,允许录制测试,这样工程团队和我们的合同制造商合作伙伴在我们的整个开发周期中可以多次重复使用。

Spencer Saunders, 平台开发系统部 – ARM (工程经理)

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