XJInvestigator – Réparation en production électronique / Station de reprise

Bien plus qu’un outil de test de ligne de production, XJInvestigator est un environnement visant spécifiquement la réparation efficace des cartes défaillantes.

Vous pouvez limiter les coûts de fabrication en identifiant rapidement les défauts, en faisant retester les cartes, en travaillant à partir d’un environnement unique, intégré et facile à utiliser. L’interface de l’analyseur (XJAnalyser) permet de contrôler directement les broches des composants JTAG en temps réel et d’exécuter des fonctions de diagnostic supplémentaires qui ne sont normalement pas disponibles sur la ligne de production.

Vous pouvez également profiter de toutes les fonctionnalités et des rapports d’erreurs de XJRunner, en visualisant les défauts à la fois sur le schéma et la carte PCB en utilisant les « viewers » intégrés.

Fiche Produit XJInvestigator Contactez-nous Evaluation Gratuite

Fonctionnalités

  • Environnement de réparation pour les tests de XJDeveloper / XJRunner
  • Test d’Interconnexions Avancé complet
  • Tests de RAM, Flash et d’autres dispositifs non-JTAG
  • Programmation de mémoires flash, FPGA, CPLD et EEPROM
  • Layout Viewer* – affiche l’emplacement physique des nets, broches et composants défectueux
  • Schematic Viewer* – pour afficher le circuit autour des défauts constatés
  • Contrôle direct des broches / billes de soudure des dispositifs JTAG
  • Capture et affichage graphique de l’état des broches en temps réel dans le Waveform Viewer
  • Suivi des courts-circuits, des circuits ouverts et d’autres défauts

Test de diagnostic simple, puissant et flexible

XJInvestigator extrait toutes les informations requises pour tester et déboguer vos cartes électroniques, à partir du même fichier XJPack crypté par XJRunner. Pour assurer une cohérence dans le processus de test, les fonctions de test prédéfinies ne peuvent pas être modifiées, mais XJInvestigator offre une flexibilité supplémentaire et des options de configuration nécessaires pour faciliter le suivi efficace des défauts.

Dès qu’un problème a été identifié avec une carte électronique, vous pouvez exécuter des tests individuels, des ensembles de tests ou des fonctions de débogage supplémentaires exclus des tests de production. Les tests peuvent également être exécutés en continu, pour aider à diagnostiquer des problèmes particulièrement difficiles ou intermittents.

Si les tests de ligne de production ne peuvent pas être exécutés sur une carte particulière en raison de problèmes avec la chaîne JTAG, vous pouvez utiliser le Chain Debugger intégré pour identifier rapidement ces défauts afin de pouvoir continuer les tests.

Run Tests screen in XJInvestigator

« Layout Viewer » et « Schematic Viewer » inclus

S’il y a des défauts constatés lors de l’exécution des tests, les Layout Viewer et Schematic Viewer* peuvent être utilisés pour trouver l’emplacement physique et comprendre la nature des défauts sur la carte, en montrant la conception schématique et le routage des nets, qui mettent en évidence les zones de problèmes potentiels. Vous pouvez également visualiser rapidement n’importe quel composant, broche ou net dans votre circuit pour retrouver un défaut.

* Les « viewers » ne sont disponibles que si vous choisissez d’inclure les informations requises dans le fichier XJPack lorsqu’elles sont exportées depuis XJDeveloper.

Prenez le contrôle direct des composants JTAG

Des tests « ad hoc » simples peuvent être mis en œuvre très rapidement, en contrôlant et en surveillant les signaux sur la carte à partir des composants JTAG, même des BGA. Sur l’écran « Analyzer », la valeur des broches peut être configurée haut, bas ou bascule (toggle) selon vos besoins. Les valeurs sont ensuite affichées par un code de couleurs des broches.

Analyser screen in XJInvestigator

Comparaison des cartes

Avec la fonctionnalité « Golden Scan » (carte de référence), vous pouvez capturer les valeurs sur les composants JTAG sur une carte fonctionnelle. Ces valeurs peuvent ensuite être utilisées pour identifier les différences entre des cartes présentant un comportement anormal et une carte connue fonctionnelle.

Surveillance des broches (Pin Watch)

Vous pouvez sélectionner des broches dans une fenêtre de contrôle, ce qui vous permet d’établir facilement les relations entre elles, même si ces broches appartiennent à différents composants JTAG. Vous pouvez également regrouper des broches dans des bus, puis écrire des valeurs sur les bus et les surveiller pour des tests plus efficaces.

Interface flexible

En affichant visuellement le résultat des tests lors de l’utilisation d’Analyser et d’autres fonctionnalités de débogage – telles que les « Viewers » – l’interface de XJInvestigator aide les ingénieurs à rationaliser et à simplifier davantage le processus de débogage.

Configuration recommandée

  • Processeurs Intel® Core i3, i5, i7 ou équivalent (toutes générations)
  • Microsoft® Windows® 7, Windows 8.1 ou Windows 10 (32 ou 64 bit)
  • 4 GB RAM

XJInvestigator for fast PCB repairs in manufacturing

  • Contrôle broche par broche en temps réel des BGA et composants à pas fin
  • Détection de défaillances de fabrication
  • Programmation in-situ

Principaux Avantages
  • Augmenter les rendements de production – réparer les cartes qui seraient autrement devenues des déchets
  • Réduire le temps de débogagetravailler à partir d’un seul environnement intégré
  • Garder le contrôle sur la façon dont les circuits sont testés
  • Réduire les coûts de formation – interface intuitive et conviviale

Options de licence flexibles

Pour plus d’information, support, ou pour un devis sur une partie quelconque du système XJTAG, veuillez contacter votre distributeur local.

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