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Software-Funktionen XJDeveloper test development
XJDeveloper
XJInvestigator board repair
XJInvestigator
XJAnalyser visual debugger
XJAnalyser
XJRunner production test
XJRunner
Integrierte Entwicklungsumgebung zur Erstellung von JTAG-basierten Test- und Programmiersystemen Integrierte Test- und Debugging-Umgebung für Leiterplatten-Reparatur/Überarbeitung Visuelles Analyse- und Debugging-Tool für Komponenten in Ihrer JTAG-Kette, in Echtzeit Laufzeit-Produktionstestumgebung für die Ausführung von XJDeveloper-Systemen
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Entwicklung von Tests & Programmierung
Ausführung von Tests & Programmierung
Grafisches Pin-Display & Steuerung
Modellbibliothek für Nicht-JTAG-Komponenten
Verbindungstest Erstellen + Ausführen Ausführen Ausführen
Detaillierte Fehlerbeschreibung
Flash-Programmierung Erstellen + Ausführen Ausführen Ausführen
CPLD- und FPGA-Programmierung Erstellen + Ausführen Ausführen Erstellen + Ausführen Ausführen
Parallel-Testen
Layout Viewer
Schematic Viewer
Waveform Viewer
Testabdeckungs-Analyse & Berichte
XJEase-Debugger
XJFlash-kompatibel Erstellen + Ausführen Ausführen Ausführen
XJDirect-kompatibel Erstellen + Ausführen Ausführen Ausführen
Externe DLL-Aufrufe Erstellen + Ausführen Ausführen Ausführen
Netzlisten-Zusammenschluß
BSDL-Editor
Testen ohne Netzliste Erstellen + Ausführen Ausführen Ausführen
Logikbaustein-Unterstützung Erstellen + Ausführen Ausführen Ausführen
Fehlerregister Erstellen + Ausführen Erstellen + Ausführen Erstellen + Ausführen
Drittanbieter-Integrierung
„Golden Scan“ / „Golden Board“-Vergleich
Demo-Board und Tutorials optional*
JTAG-Ketten-Debugger
Support und Wartung

* XJRunner kann auf Anfrage ohne zusätzliche Kosten mit einem Demo-Board geliefert werden.

Hardware-Features XJLink2 USB JTAG-Controller
XJLink2
XJQuad 4-Port JTAG-Controller
XJQuad
PXI JTAG-Controller
PXI-XJLink2
SPEA JTAG controller
XJLink2-3030
Keysight (Agilent) JTAG-Controller
XJLink2-3070
Teradyne JTAG-Controller
XJLink2-CFM
Konfigurierbare Spannung
Frequenzmessungen
Spannung von Pin-Sets (Voltage Banks)
Spannungsmessungen
Anzahl der JTAG-Controller 1 4 1 1 1 1
TAPs pro JTAG-Controller 4 4 4 4 4 4
GPIO auf Pins
Einstellbarer JTAG-Signalabschluss
Automatische Signalversatzsteuerung (Skew Control)
Einstellbare Flankensteilheit (Slew Rate)
Startknopf für den Test
Visuelle Teststatus-Anzeige
TCK-Taktfrequenzen bis zu 166 MHz 166 MHz 166 MHz 166 MHz 166 MHz 166 MHz
Digitales Oszilloskop
Spektrum-Analysator
Wellenform- und Funktionsgenerator
Serieller Protokollanalysator
Verbindung USB USB PXI SPEA 3030 Keysight (Agilent) i3070 Teradyne TestStation

XJTAG Systeme

Test Developer ist eine integrierte Entwicklungsumgebung für die Entwicklung und das Debugging von JTAG-basierten Test- und Programmiersystemen. Test Developer Pro fügt diesem System XJAnalyser-Funktionalitäten hinzu, um das leistungsfähigstes Boundary-Scan-Testsystem anzubieten.

Test Developer Pro + XJIO wird mit einer XJIO-Test-Erweiterungskarte geliefert, mit der Sie die Testabdeckung und Fehlerdiagnosen verbessern können.

XJDeveloper

XJDeveloper bietet eine intuitive Oberfläche für die Entwicklung von JTAG-basierten Test- und Programmiersystemen für Ihre Prototyp- und Serienproduktionsleiterplatten.

Die integrierten Schematic- und Layout-Viewer und der anwendereigene Netlist-Explorer helfen Ihnen, die physische und logische Struktur des Boards während der Entwicklung zu verstehen, während der eingebettete XJRunner Ihnen erlaubt, diese Systeme mit Ihrer Hardware laufen zu lassen und zu debuggen.

Sobald Sie ein abgeschlossenes System haben, können Sie die Testabdeckung mit dem automatischen DFT-Analyse-Tool überprüfen. Erfahren Sie mehr »

XJInvestigator

XJInvestigator ist eine integrierte Test- und Debugging-Umgebung für Leiterplatten-Reparatur/ Überarbeitung. Es ermöglicht Ihnen, Herstellungsprobleme auf fehlerhaften Leiterplatten schnell zu diagnostizieren und die kompletten Fertigungslinien-JTAG-Tests nach jeder Überarbeitung erneut anzuwenden.

XJInvestigator kombiniert die wiederholbare, automatische Prüfung von XJRunner mit den grafischen, interaktiven Debug-Funktionen von XJAnalyser und bietet zusätzliche Diagnosefunktionalität, die normalerweise nicht in der Fertigungslinie verfügbar ist. Erfahren Sie mehr »

XJAnalyser

XJAnalyser ist ein visuelles Analyse- und Debugging-Tool für Komponenten in Ihrer JTAG-Kette. Es bietet eine interaktive, grafische Oberfläche zum Anzeigen und Steuern von Pins auf den JTAG-Komponenten auf einem Device Under Test (DUT). Erfahren Sie mehr »

XJRunner

XJRunner ist eine Laufzeit-Produktionstestumgebung für die Ausführung von XJDeveloper Test- und Programmiersystemen. Es bietet eine einfach zu bedienende Benutzeroberfläche für den Einsatz auf einer Fertigungslinie sowie die Möglichkeit, individuelle Tests auszuwählen und in Schleife laufen zu lassen, wenn Sie Leiterplatten debuggen, die bei vollständiger Prüfung versagen.

XJRunner kann alle Testergebnisse für Qualitätskontrollen/Audits protokollieren. Erfahren Sie mehr »

Entwicklung von Tests & Programmierung

Um die Fähigkeiten von JTAG zum Testen und Programmieren eines Device Under Test (DUT) nutzen zu können, ist es zunächst notwendig, ein Projekt zu entwickeln, das auf den Designinformationen für dieses Board basiert. Die für diese Entwicklung zu verwendende XJTAG-Software ist XJDeveloper.

Ausführung von Tests & Programmierung

Sobald ein JTAG-basiertes Test- und Programmiersystem für ein Device Under Test (DUT) entwickelt wurde, ist es notwendig, dieses System auszuführen. Anfänglich wird dies für das Debugging des entwickelten Systems, das mit XJDeveloper durchgeführt werden kann, notwendig und später für die Produktionstests, bei denen XJRunner verwendet werden soll.

Grafisches Pin-Display & Steuerung

Die Flexibilität, die direkte Kontrolle eines beliebigen Pins übernehmen und den Zustand auf einem JTAG-fähigen Gerät überwachen zu können – sogar Balls unter BGA-Komponenten – bietet Ingenieuren ein wirklich nützliches Tool beim Versuch ein fehlerhaftes Board zu debuggen. Zwei der Möglichkeiten, wie diese Funktionalität angewandt werden kann, um Leiterplatten zu debuggen, ist einen JTAG-fähigen Pin zu treiben, einen anderen zu überwachen, an den er angeschlossen werden soll, und einen Pin über JTAG zu treiben und mit anderen Testgeräten (wie einem Spannungsmessgerät oder Oszilloskop) zu beobachten.

XJAnalyser oder der Analyse-Bildschirm in XJDeveloper verwenden eine grafische Darstellung der JTAG-Komponenten auf einem Device Under Test (DUT), um auf Pin-zu-Pin-Basis sowohl den Pin State (entweder als Eingangs- oder als Ausgangssignal) als auch den Logikpegel (entweder High, Low oder zwischen Fast- und Slow-Output) zu steuern.

Modellbibliothek für Nicht-JTAG-Komponenten

Beim Aufbau eines JTAG-basierten Test- und Programmiersystems sind die JTAG-fähigen Komponenten mit BSDL-Dateien verknüpft, die ihre JTAG-Implementierung beschreiben. Die anderen Komponenten auf einem Device Under Test (DUT) müssen ebenfalls Beschreibungen aufweisen, damit das System weiß, wie es mit ihnen umgehen soll.

XJDeveloper wird mit Bibliotheken geliefert, die Modelle für drei Arten von Komponenten enthalten: einfache passive Komponenten wie Widerstände, Komponenten, die mit einer Wahrheitstabelle wie Puffern und Logikgattern beschrieben werden können und komplexeren Komponenten, die spezielle Testalgorithmen erfordern.

Die Modelle für komplexere Geräte wie Flash, RAM, Ethernet, A / D, Logic, I²C, SPI und PCI werden in der High-Level-Testbeschreibungssprache XJEase geschrieben. Der vollständige Quellcode für die meisten Komponenten ist frei verfügbar.

Verbindungstest / Interconnect-Test

Der Verbindungstest wird automatisch auf die Design-Informationen Ihres Board zugreifen, gemeinsam mit den Modellen, die den einzelnen Komponenten zugeordnet wurden, um eine Reihe von Tests zu entwerfen, die nach Kurzschlüsse, offene Stromkreise, Aufhängen und Pull-Resistor-Fehlern suchen.

XJTAGs proprietärer Verbindungstest-Algorithmus testet einen höheren Prozentsatz Ihrer Schaltung als die meisten anderen JTAG-Lösungen.

Hochpräzise Fehlerisolationsdiagnosen, die als Standardteil jedes Systems geliefert werden, markieren die Art des Fehlers, die Netze und Pins, die beteiligt sind, und stellen Verbindungen zu Layout und Schaltplan des Boards zur Verfügung, um dem Ingenieur zu helfen, das Board zu reparieren.

Detaillierte Fehlerbeschreibung

Beim Ausführen von Tests bietet XJTAG detaillierte Informationen über den Standort und die genaue Art der gefundenen Fehler. Anklickbare Links zu den Schematic- und Layout-Viewern helfen dem Benutzer, die Fehler auf einem Board zu verstehen und zu visualisieren.

Flash-Programmierung

Externe Flash-Speicher können indirekt über ihre Verbindung zu Geräten der JTAG-Kette programmiert werden.

Bei der Programmierung über Boundary-Scan versucht man am besten die Menge der zu programmierenden Daten zu minimieren, da die Programmierung großer Datenmengen sehr langsam vorangehen kann (vor allem für serielle Flash-Komponenten).

Wenn eine große Menge an Daten programmiert werden muss und die Flash-Komponente mit einem FPGA verbunden ist, kann XJFlash verwendet werden. Wenn die Flash-Komponente an einen Prozessor angeschlossen ist, kann XJDirect eventuell verwendet werden.

Die Programmierung des internen Flash-Speichers in einem Prozessor kann mit XJDirect möglicherweise durchgeführt werden.

FPGA/CPLD programmierung

Alle FPGA/CPLD-Hersteller bieten Tools für die Entwicklung der Anwendungen, die in den Komponenten laufen sollen. Diese Tools können Programmierdateien auch in Serial Vector Format (SVF) oder Standard-Test- und Programmiersprache (STAPL) exportieren, die wiederum in XJTAG ausgeführt werden können.

Layout Viewer   Schematic Viewer

Das Verständnis der logischen Funktion eines Bereichs einer Schaltung und der genauen physikalischen Position eines Geräts, Netzes oder Pins kann sehr nützlich sein, wenn ein fehlerhaftes Device Under Test (DUT) debuggt werden soll.

Wenn ein Fehler auftritt, können XJDeveloper, XJInvestigator und XJRunner so konfiguriert werden, dass sie Links zum fehlgeschlagenen Element sowohl im Layout als auch im Schaltplan bereitstellen.

Beide Viewer sind auch sehr hilfreich bei der Projektierung, besonders wenn diese nicht vom Designer der Leiterplatte erfolgt.

Waveform Viewer

Der Waveform Viewer zeigt Daten in Form von digitalen Wellenformen an, die eine korrelierte Echtzeit-Ansicht der JTAG-Kettendaten darstellen.

Während man mit Boundary-Scan nicht die Punkte erfassen kann, an denen Signale in Echtzeit übergehen, bietet der Waveform Viewer eine Logikanalysator-Ansicht der digitalen Aktivität Ihres Systems, wie sie von der Scankette erfasst wird. Dies ermöglicht diverse neue und gewinnbringende Fähigkeiten für den Debug- und Fehlerdiagnoseprozess.

Der Waveform Viewer ist ein Standardfeature in XJAnalyser und als Teil von XJInvestigator und XJDeveloper enthalten.

Testabdeckungs-Analyse & Berichte

XJDeveloper analysiert automatisch die Testabdeckung, die mit Ihrem XJTAG-Testsystem erreicht wird. Diese Informationen können für die Managementberichterstattung exportiert oder interaktiv abgerufen werden, um vollständig nachzuvollziehen, welche Elemente eines DUT getestet werden – unter Hervorhebung von Möglichkeiten zur Erweiterung der Abdeckung mit XJTAG oder anderen Testtechnologien.

XJEase-Debugger

XJDeveloper beinhaltet einen Software-Debugger für den Einsatz während der XJEase-Entwicklung und Prototypisierung. Der XJEase-Debugger verfügt über ein variables Watch-Fenster und Breakpoints, um Ihre Tests so schnell wie möglich zu starten. Dieser Debugger erlaubt Ihnen, den Code Zeile für Zeile durchzugehen. Setzen und entfernen Sie Breakpoints, überprüfen und setzen Sie die Werte jeglicher Variablen im Code.

XJFlash-kompatibel

Sie können einen mit Flash verbundenen FPGA mit Geschwindigkeiten nahe des theoretischen Maximums programmieren – XJFlash kann Ihnen eine bis zu 50-fache Verbesserung der Programmiergeschwindigkeiten über Boundary-Scan bieten.

XJFlash konfiguriert den FPGA auf Ihrem Board, um eine benutzerdefinierte Flash-Programmierung zu ermöglichen. Die Daten werden dann über den JTAG-Port in den FPGA gestreamt und von dort in das Zielgerät implementiert.

Eine zusätzliche Lizenz ist erforderlich, um XJDeveloper-Projekten XJFlash hinzuzufügen.

XJDirect-kompatibel

Mit XJDirect können Sie den Test-Access-Port (TAP) auf einer JTAG-fähigen Komponente auch für andere Funktionen als Boundary-Scan verwenden – wie z.B. die Programmierung des internen Flashs auf einem Prozessor.

Viele Prozessoren verwenden JTAG als Protokoll für den Zugriff auf ihre Debug- / Emulationsfähigkeit. Diese Funktionalität ist in der Boundary Scan Description Language (BSDL)-Datei nicht dokumentiert, so dass sie nicht automatisch von XJTAG angeboten werden kann. Mit XJDirect können Sie jedoch Register schreiben und lesen, um das Gerät für den Boundary-Scan-Test zu konfigurieren, ADC-Messungen zu starten und den internen Flash zu programmieren.

Externe DLL-Aufrufe

Mit externen DLL-Aufrufen können Sie auf die Funktionalität anderer Programme oder Testgeräte aus einem XJDeveloper/XJRunner-Testsystem zugreifen.

Jede Funktionalität, auf die über ein Application-Programming-Interface (API) zugegriffen werden kann, kann entweder direkt oder über eine einfache Wrapper-DLL aus XJTAG aufgerufen werden.

Netzlisten-Zusammenschluß

Das Testen mehrerer Boards ist so einfach wie das Testen eines einzelnen. Es muß keine komplizierte Zusammenlegung erfolgen. Speisen Sie einfach die einzelnen Netzlisten in XJDeveloper ein und geben Sie an, wie die Leiterplatten miteinander verbunden sind.

BSDL-Editor

Mit dem BSDL-Editor können Sie BSDL- und benutzerdefinierte Zelltyp-Paketdateien in XJDeveloper anzeigen und bearbeiten. Der Editor zeigt Ihnen auch eine Zusammenfassung der in der BSDL-Datei enthaltenen Informationen, einschließlich der IDCODE, TCK-Frequenz, Boundary-Scan-Registerlänge und des Herstellers.

Testen ohne Netzliste

Wenn Sie keine Konnektivitätsdaten für ein fehlerhaftes Board haben, ermöglicht XJDeveloper Ihnen, ein Testsystem auf Grundlage der BSDL-Dateien für die JTAG-Komponenten auf der Leiterplatte zu basieren, anstatt Sie zu zwingen, eine Netzliste zu verwenden. Das System kann dann automatisch von einer funktionsfähigen Leiterplatte aus die Verbindungen zwischen den JTAG-Komponenten für den Einsatz während des Verbindungstests erlernen.

Sie können auch zusätzliche Nicht-JTAG-Komponenten wie RAM, Flash oder Komponenten auf Peripheriebussen wie I²C und SPI hinzufügen, um die Testabdeckung zu erweitern.

Logikbaustein-Unterstützung

In Schaltungen, die Standard-Logikbausteine enthalten, wird ein XJTAG-Testsystem automatisch versuchen, diese Komponenten im Verbindungstest auszuführen und kann die Komponenten auch verwenden, um SET-Anweisungen in Ihren XJEase-Test-Device-Dateien auszuführen. XJDeveloper beinhaltet eine umfangreiche Bibliothek von Logikbaustein-Modellen sowie hat einen Editor installiert, um benutzerdefinierte Definitionen wie benötigt zu erstellen.

Fehlerregister

Das Fehlerregister wird verwendet, um nützliche Informationen für Benutzer anzuzeigen, insbesondere in der Produktionsumgebung, wenn gängige Fehler auf einer Leiterplatte gefunden werden. Ein Fehler kann so simpel sein wie das Fehlschlagen eines einzelnen Tests oder kann von einer bestimmten Kombination von Rückgabewerten aus einer großen Anzahl von Funktionen abhängig sein.

Die von Ihnen eingestellte Meldung wird nach dem Testen im XJRunner-Ausgang angezeigt, wenn alle Bedingungen erfüllt sind. Dies kann nützliche sein, um Basisanwendern Anweisungen zu geben, die sie benötigen, aber am nützlichsten erweist es sich, wenn den Ingenieuren so geholfen wird, schnell und effizient gängige Fehler auf Leiterplatten zu reparieren.

Drittanbieter-Integration

Anstatt XJRunner zu verwenden wünschen viele Kunden eine gemeinsame Test-Exekutive, um XJTAG-Tests als Teil eines umfangreicheren Systems, das auch andere Technologien umfasst, anwenden zu können. Dies könnte bspw. ein Standardpaket wie LabVIEW™ oder LabWindows™ von National Instruments, eine herstellerspezifische ATE-Steuerungssoftware oder eine vollständig maßgeschneiderte Anwendung sein, die in einer Sprache wie Visual Basic .NET oder C# geschrieben ist.

Diese Integrationsanforderungen werden in der Regel mit einer .NET DLL erfüllt, die mit XJRunner und XJDeveloper geliefert wird. Für ältere Systeme, die keine Aufrufe in .NET DLL machen können, können XJTAG-Funktionen auch von einer DOS-Befehlszeile ausgeführt werden.

„Golden Scan“ / „Golden Board“-Vergleich

Das Hervorheben von Unterschieden zwischen einem Board mit unerwartetem Verhalten und einem funktionierenden „goldenen“ Board kann sehr hilfreich sein, wenn man debuggt.

XJInvestigator, XJAnalyser und der Analysator-Bildschirm in XJDeveloper können die Werte, die auf die JTAG-Komponenten auf einem Device-Under-Test (DUT) implementiert werden, erfassen. Diese Werte können dann mit den im XJTAG-Projekt gespeicherten Werten verglichen werden, die zuvor von einem „goldenen“ Board erfasst wurden.

Demo-board & Tutorials

Die XJDemo-Board beinhaltet eine Kombination aus JTAG-fähigen Geräten (CPLD und Mikroprozessor) und Standardperipherie einschließlich SRAM, Blitz, ADC und EEPROM. Die interaktiven Tutorials führen Sie durch die Entwicklung Ihres ersten Testsystems mit XJTAG.

JTAG-Ketten-Debugger

JTAG-Tests können nur dann verwendet werden, wenn die JTAG-Infrastruktur ordnungsgemäß funktioniert. Der JTAG-Ketten-Debugger gibt Ihnen Informationen, um Probleme zu untersuchen und zu beheben, wo dies nicht der Fall ist, wie z. B. bei einem nicht verbundenen TAP-Signal, das verhindert, dass Daten von TDI zu TDO übergehen oder eine Störung auf TCK, die Daten vom zu erwartenden Standort verschieben würde.

Support und Wartung

Kunden mit Wartungsverträgen haben Zugang zu beispiellosem technischen E-Mail- und Telefon-Support, neuen Feature-Releases und Bug-Fix-Updates.

Eine zusätzliche Lizenz ist erforderlich, um XJFlash einem XJDeveloper-Projekt hinzuzufügen.

XJLink2

Verbesserter tragbarer USB-JTAG-Controller für die Entwicklung und Tests von Tischgeräten. Einfache Verbindung zu einer Vielzahl von Leiterplatten.

  • 4 TAPs, Mehrfachspannung
  • Leicht & tragbar
  • Konfigurierbarer JTAG-Port

XJQuad

4-Port-Version von XJLink2 für das Serienfertigungs-Testing.

  • Mitgeliefert in der XJRunner-Software.
  • Verbindung mit vier JTAG-Ketten pro Controller.
  • Kann zum Testen von vier Karten gleichzeitig oder unabhängig voneinander verwendet werden.

PXI-XJLink2

PXI JTAG-Controller, XJLink2-kompatibel.

Passt in ein PXI-Rack für LabVIEW™, LabWindows™ oder TestStand-Integration.

XJLink2-3070

XJLink2-Integration in Keysight (Agilent) i3070™ ICT-Maschinen.

  • Vollständige BTBasic-Umgebungsintegration
  • Passt in einen Steckplatz auf der Keysight (Agilent) i3070 Utility Card
  • Optional können mehrere XJLink2-3070s pro Utility Card verwendet werden

XJLink2-CFM-Controller und CFMx-Expanderkarten

XJLink2-Integration in Teradyne TestStation™ ICT-Maschinen.

  • XJLink2-CFM passt in einen Steckplatz auf der Teradyne Multi-Function Application Board
  • Optional können Sie eine oder mehrere XJLink2-CFMx-Expanderkarten für maximale Konnektivität (drei mitgelieferte CFMx-Karten) verwenden

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