Haliplex 社 コスト、不良品、開発期間を XJTAG で削減

通信機器製造のHaliplex社(豪)は、工数削減と不良品削減により年間US$100,000以上のコストを削減しました。それは、高速、信頼、革新的な XJTAG バウンダリスキャンの利点を活用することで。

Haliplex HPX1600シリーズのようなマルチサービス・アクセス端末は高実装PCBに高機能組込みプロセッサ、FPGA、ASIC、高速通信データデバイスなどを搭載します。他にも、光ファイバーデバイス、I2C、Ethernet スイッチなどの部品など。XJTAGバウンダリスキャンを用いて試作品をデバッグし、製造品をテストすることで、Haliplex 社は年間$100,000 以上の削減を算出しました。

Anthony Merry氏, Chief Technical Officer at Haliplex社は、”XJTAG によりボードごとの高いテストカバレッジを達成することや、欠陥を正確にトレースしてデバッグと修理に費やす時間を削減することができました。これにより新しいデザインを製造に委託するまでに要する一般的な時間をおおよそ4日に削減しました。年間に開発する新しいボードの数を考えると、おおよそUS$24,000に相当する開発者のコストが削減されます。これだけで、XJTAGへの投資が直ちに回収されたことになります。しかしながら、製造テストの戦略をXJTAGに置くことで、更なるコスト削減を得ています”

基板は製造パートナーで組み上げられ、そこでXJTAGの最適化された製造テストアプリケーション実行環境であるXJRunner を用いて各製造単位がテストされます。デバイスへのプログラミング、シリアル番号の書込みもまた、バウンダリスキャンで実行されます。

”XJRunner には診断機能があり、製造パートナーが自身で欠陥を突き止めることができます。さもなければ、相当な欠陥ボードの山が弊社内にできることになります。これにより多くの欠陥ボードが納品されることが無くなり、その率は90%までになり、年間US$64,000 ものスクラップの削減、US$12,000 もの修理担当者の時間コストを削減しています” Merry 氏

さらに高いテストのカバレッジが達成可能であること、またテストを開発する上で格別の確信を得られることは、開発者の工数・コストの削減に貢献していると言及しています。”XJTAGのグラフィカル環境とハイレベルなテスト言語により弊社のエンジニアは、特定機能やボード上の特定箇所のテストを正確、迅速に開発できています。他のシステムでは詳細があいまいになり、ある種のテストがカバーされているかの評価・確認が難しい傾向にありました。”

”バウンダリスキャンチェインからJTAG未対応デバイスもXJTAGでテスト可能であり、生産性と品質を押し上げています。” テスト容易性を自動解析する便利な機能を提供するだけでなく、XJTAGは I2C や SPI などボードレベルのインターコネクトテストにも使用可能で、バウンダリスキャンチェイン上に直接接続されない未対応デバイスもその範疇に収めています。これにより、ADC、DAC、シリアルメモリ、センサー、ディスプレイドライバー、スイッチなどの部品を搭載するボードのテスト時に、バウンダリスキャンを用いて高いテストのカバレッジを達成することが可能となります。

”XJTAGは強力な機能性と、非常に優れた価格的優位性を同居させ、他のバウンダリスキャンテストシステムの中で際立った価値を提供しています。”

”XJTAGバウンダリスキャンを用いて新しいボードを委託製造するまでの開発時間を削減し、基板修理が迅速に出来て、スクラップとなるボードを削減することで、年間$100,000 以上を削減しました。”

”そのグラフィカル環境とハイレベルなテスト言語により弊社のエンジニアは、特定機能やボード上の特定箇所のテストを正確、迅速に開発できています。他のシステムでは詳細があいまいになり、ある種のテストがカバーされているかの評価・確認が難しい傾向にありました。XJTAGは強力な機能性と、非常に優れた価格的優位性を同居させ、他のバウンダリスキャンテストシステムの中で際立った価値を提供しています。”

Anthony Merry 氏, Chief Technical Officer – Haliplex

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