製品情報

XJTAG 開発システム

XJTAG開発システムは、IEEE 1149.1及び1149.6 のバウンダリスキャン・スタンダードに準拠し、電子基板のデバッグ・テスト・プログラミングを簡単に実現できるテストスイートで、HWとSWで構成されています。

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XJTAG は、開発者、テストエンジニアにバウンダリスキャンの可能性が解き放ちます。設計、開発プロセスは促進され、製品ライフサイクルを通してデバッグ、テストの効率が改善されるようになります。


XJTAG Expert – JTAG バウンダリスキャンにオシロスコープなど計測機能を統合

XJAnalyser - Graphical view of your IEEE 1149.1 chainXJTAG Expert は世界初の計測機能を搭載した可搬型のJTAGバウンダリスキャンテストツールです。デジタルオシロスコープ、任意波形発生器、ファンクションジェネレータ、スペクトラムアナライザ、シリアルプロトコルアナライザを搭載し、USB 2.0 でJTAGチェインに高速接続して、あらゆる基板をテスト、デバッグ、メンテナンスすることができます。XJTAG Expert ADF-2は小型軽量ゆえ、製造検査からメンテナンス、開発チームにまで容易にツールと情報を共有できるようになります。 more…

XJTAG Expert データ資料

XJDeveloper-グラフィカルインターフェイス

XJDeveloper - for configuring XJTAG to test your circuitsXJDeveloper は、基板テストの設定・実行を、簡単・迅速に行なえるグラフィカルなツールです。XJDeveloper のテストスクリプトは、製品設計時のデバッグから製造工程まで再利用が容易で、製品市場投入までの期間を削減できるようになります。

ドラッグ&ドロップインターフェイスを用いてJTAGチェインを設定し、JTAG未対応デバイスを分類する。そして、内蔵されたネットリスト・エクスプローラによりデバイス間の接続情報が簡単なインターフェイスで提供され、テストプログラムが簡単に設定、構築できるようになります。そのうえ...

XJDeveloper 動画デモ (英語 音声付 4分3秒 約7.6MB)

アドバンスド・コネクション・テスト

XJEase はアドバンスド・コネクション・テスト機能を持っています。回路内のデバイスの相互接続と特性に対する理解から、XJTAGは他の多くのJTAGツールに比べて回路のより多くの領域をテストすることが可能です。また、回路内のデバイスの状態をモニターすることで、不具合発生場所に関する詳細な情報と不具合の正確な種類を得ることも可能です。そのうえ...

XJEase – JTAG未対応デバイスに対するテストとプログラミング

XJEase は、JTAGテストの開発を高級言語でプログラミングできる、完全かつ、柔軟性のあるツールです。

高レベルのテスト記述言語により、テストの開発がより簡単で迅速に行えます。個々の回路ごとにどのようにテストが実装されるかの詳細をテストのプログラム記述といった方法で抽象化できる為です。そのうえ...

XJDeveloper, 接続テスト, XJEase データ資料

XJAnalyser – グラフィカルなJTAG解析とデバッグ

XJAnalyser - Graphical view of your IEEE 1149.1 chainXJAnalyserの“プラグ・アンド・プレイ”コンフィグレーションで、立ち上げと実行が迅速に行え、即座にJTAGチェインの確認とJTAGチェイン上のデバイスのピンやバスの値のセットとチェックが可能です。

XJAnalyserは回路設計のデバッグ時に使用できる強力なツールです。そして、SVFやSTAPL/JAM形式のファイルをプログラミングすることも出来ます。 そのうえ...

XJAnalyser データ資料
XJAnalyser 動画デモ (英語 音声付 5分6秒 約25MB)

XJRunner – XJEaseで開発されたテストを実行

XJRunner - run-time environment for IEEE 1149.1 testsXJEaseのテストを実行するための環境。基板製造業者や現地でのフィールドテスト向けに特化した製品で、その為、テスト結果のログ機能、シリアル番号の生成機能やユーザーの管理機能が追加されています。
そのうえ...

XJRunner データ資料
XJRunner 動画デモ (英語 音声付 2分3秒 約7.3MB)

XJFlash – 超高速フラッシュ書き込みツール

XJFlash - 先進的JTAG経由のフラッシュデバイスのインシステムプログラミング

XJFlashは先進的で革新的な、JTAG経由の各種フラッシュデバイスのインシステムプログラミング(ISP)技術です。

XJFlashを使えば、バウンダリスキャンによる従来方式に比べてフラッシュ書き込みを50倍までスピードアップ可能です。
そのうえ...

XJLink / XJLink2 – USB 接続によるJTAGインターフェイス

XJLink USB to JTAG controllerXJLink, XJLink2 は、USB2.0対応のJTAGアダプタで、基板上のJTAGチェインに最大480Mbpsで接続されます。

小型・軽量・ポータブルで、研究室内、フィールド・テストなどあらゆる場所で最適です。ライセンスを内蔵しますので、複数のホストマシンで利用することが出来ます。そのうえ...

XJLink2 データ資料
XJLink データ資料

XJQuad – Multiport USB-JTAG controller

XJQuad multiport USB-JTAG controllerXJQuad は4台分のXJLink2を1つに統合したJTAGプローブ本体(USB接続)で、XJDeveloper で開発したテストプログラムを実行するXJRunner が付属します。4基板を同時にテストできるため、量産現場などで更なるコスト削減に貢献します。各JTAGポートは最大4JTAGチェインを1つにまとめることも可能です。more…

XJDemo と 概説書

XJDemo boardXJDemo
ボードと、そのテストの概説書を用いて、XJTAGのテスト開発方法と実行を容易に学ぶことが出来ます。そのうえ...

専用の統合テストアプリケーション

.NET などの標準インターフェイスをサポート。XJTAGテストシステムをNI LabVIEW™, LabWindows™/CVI などテストシステムや、Visual Basic .NET や C# のアプリケーションと統合することができます。more…
LabVIEW and LabWindows are registered trademarks of National Instruments.

Chain Debugger

JTAGチェインデバッガ

JTAGチェインデバッガにより、不安定なJTAGチェインのトラブルシュートを行えます。JTAG信号を動かしたり、ピン配置を設定することが出来ます。
そのうえ...

XJIO, XJIO-PCIボード

XJIO expansion board - improved test coverageXJIOおよびXJIO-PCIボードを使って外部接続用コネクタの信号を確認することができる為、テスト対象ユニットのテストカバレージを向上させることが出来ます。

XJIOボード上の様々なデジタル・アナログIOを使用して、障害分離を改善し、電源電圧の確認、カスタム冶具の作成コストの削減が可能です。また、JTAG未対応デバイスのみで構成された基板のテストに使用することも可能です。 そのうえ...

XJIO データ資料
XJIO-PCI データ資料

PXI modules - run XJTAG from a PXI rack

PXI モジュールにより

PXI モジュールにより、XJTAGをPXIベースのテストシステムに統合できます。PXI XJLink2の再構成可能なJTAGポートからJTAGチェインを介してテスト対象基板をPXI環境に接続します。
そのうえ...

PXI XJLink2 データ資料


XJAPI – 低レベルのJTAGアクセス

ハードウェア(XJLink)に対して容易に利用できるDLL-API。あらゆるシステム要求或いはあらゆる入手可能な標準APIに対応可能なAPIを作成可能です。そして...

XJAPI データ資料

Customisation / Consultancy (enquiries@xjtag.com)

XJTAGの特注バージョンの提供と独自の要求に対応したXJEaseのテストプログラムを作成可能です。


XJTAGシステムに関するご質問や、価格等のお問合せは、弊社あるいは富士設備)まで連絡下さると幸いです。

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XJTAG のデモ

富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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