量産検査

lifecycle production

基板製造業の為のJTAGテスト

XJRunnerは、製造工程で低コストのテスト実行環境を提供することに特化した製品です。設計や試作段階で使用したテストプログラムが再利用でき、さらには様々な機能を追加できます。 インターコネクトテスト、FPGAやFlash、CPLDなど基板上デバイスへのインシステムプログラミング機能テストシリアル番号の生成と利用、監査の手がかりを得る為の定義可能なログファイルを、1つのユーザーフレンドリーなパッケージの中に収めることが出来ます。

ファインピッチやBGAデバイスの接触不良を排除

JTAGテストアクセスポート(TAP)を使用するだけで、基板上でXJTAGの全てのテストを実行できます。不具合が発生するまでテストをループし続けることで、間欠的な不具合を見つけることも可能です。

XJAnalyserを使えば、結果が不確かなX線検査装置の使用を止めることが可能です。それどころか、信号を直接的に検査できるので、デバイスに開放や短絡が無い事を確認する事が可能です。

XJIOボードを使えば、テストのカバレージを挙げることが可能です。基板の隅々に至るまで接続確認が可能で、電源ラインのチェックでさえ可能になります。

回路基板の構成

XJTAGには、JTAGデバイス、Flashメモリー、コンフィグレーションROMをプログラムして基板を設定する機能があります。XJRunnerのシリアル番号操作機能と定義可能なログファイルを使えば、生産工程の状態を簡単に管理することができます。

柔軟で持ち運び可能なJTAGソリューション

ライセンスはコンパクトなUSB-JTAGコネクタに書き込まれている為、要求に応じて色々なサイトで使用可能です。JTAG信号のスキューコントロール機能があるため、より長いケーブルを使用することが可能で、現実的な環境試験が可能です。

回路基板の不良解析と修理

Ready to get started? Try XJTAG

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XJTAG のデモ

富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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