試作基板のテストとデバッグ
治具に多くの予算を費やす代わりにバウンダリスキャンを採用することで、試作基板のテストやデバッグが容易になり、迅速かつ正確に欠陥の診断が行えます。
テストとデバッグを容易にする設計：実装基板が用意される前に、設計を検証してテストカバレッジを最大限にすることができます。
JTAGバウンダリスキャンについて
XJTAGは、FPGA、CPLD、CPUに搭載されるJTAG / IEEE 1149.Xスタンダードをサポートするテストツールです。JTAGバウンダリスキャン技術について、それによって解決される課題、最大限に活用する方法などを紹介しています。
量産検査 & 路基板の不良解析と修理
試作基板に活用したテスト資産を再利用することで、実績があって、使い勝手が良く、精度の高いテストを直ちに行えるようになります。
基板設計や試作段階で開発した実装検査や機能テストは、不良解析とデバッグにも活用されます。
