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08 November 2016

米ケイデンス・デザイン・システムズ、OrCAD Capture向けXJTAG DFT Assistantを発表

米国カリフォルニア州サンノゼ市 — ケイデンス・デザイン・システムズ社は、OrCAD® Captureが、回路図入力およびプリント基板設計システムのDesign For Test(DFT)及びデバッグ機能を大幅に向上する利便性の高いインターフェイスであるXJTAG® DFT Assistantを統合し、強化されたことを発表しました。 ハードウェア製造前の設計段階において早期に回路基板の不具合の検出・修正を可能にするソフトウェアインターフェイス
XJTAG Cadence Case Study
14 April 2015

XJTAGは最新版でダイナミック機能を搭載

XJTAG社の最新ソフトウエアリリースでは、基板が持つJTAG機能を最大限に活用して最高のテストカバレッジが得られるよう、JTAGチェイン制御の柔軟性を高めることができる。
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10 June 2013

XJTAG社 バウンダリスキャンテスト機能をXJInvestigatorで拡張

XJTAG社、電子基板のデバッグ・解析の新機能としてXJInvestigatorを発表。 XJInvestigatorはXJTAG社JTAGバウンダリスキャンテスタの最新版(v3.1)に搭載される。また新たな機能追加であるFault Dictionaryによって欠陥の診断作業がステップバイステップに支援される。他にも最新版ではコードエディタ、ユーザ承認機能、追跡調査の支援などが強化される。
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20 July 2010

XJTAG社 Micron社製 相変化メモリ(PCM)をJTAG テストツールでサポート

XJTAG社はMicron 社 Phase Change Memory (PCM) の最初のサポートを明らかにした。 PCM(相変化メモリ)はシステム性能を強化することに加えて基板実装後にプログラミングができる。XJTAG 社は Micron 社と協力し、最大書き込み速度でPCMへプログラミングできる機能をXJTAG バウンダリスキャンシステムに追加した。これにより顧客は製品や開発レベルでPCMに対して即座にプログラミングが行える。これは XJTAGの高速Flashプログラミング機能であるXJFlash で実現される。
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07 January 2010

XJTAG社 XTRシリーズを発表

XJTAG バウンダリスキャンの第二世代となるXJTAG XTRシリーズを発表した。 このXJTAG XTRシリーズには既存のXJTAG開発システムに加え、複数JTAGチェイン対応、電圧・周波数測定など数々の新機能と使い勝手の強化が施された。
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15 January 2009

XJTAG社 国内市場の更なる強化に備え、富士設備と新たな契約を締結

XJTAG社 (www.xjtag.com)は、富士設備 (www.fuji-setsu.co.jp) との間で、新たな代理店契約を締結しました。これにより、組込みシステムマーケットにソフトウエア、ハードウエア開発支援ツールを提供する富士設備は、XJTAG社製品の国内マーケット販売とサポートを、さらに強化いたします。
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XJTAG のデモ

富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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