試作基板のテストとデバッグ

Prototype circuits

JTAGチェインが形成されれば、すぐにXJAnalyserXJTAGのChainDebuggerを使ってJTAGチェインの完全性を確認できます。その後XJTAGを使って、基板上の信号をトレースしたり、デバイスをプログラミングしたり、基板上の全デバイスの相互接続テストや機能テストを実行することが可能です。

試作基板の信頼性をXJTAGテストで向上

設計段階で XJDeveloperのプロジェクトを設定し、基板が出来上がると同時に、完全な機能テストを実行することができるようになります。まず、ビルトインのアドバンスド・インターコネクション・テスト機能でJTAGデバイスの相互接続と基板全体に対する接続テストが実施されます。設計の進展に伴いテストのプログラミング追加されていくでしょう。 XJIOボードを使えば、外部インターフェースのテストも可能です。

XJDeveloperは電線の接続やパーツの取り外しのような、あらゆる変更に即座に対応し、Ethernetのループバックテストのような複雑なテストも実行可能です。

またJTAGバウンダリスキャンテストプローブに200MHzのデジタルオシロスコープ等の計測器を統合した XJTAG Expertで、より高度な基板デバッグを行うこともできます。

多くのJTAG未対応デバイスのテストプログラムがXJTAGのウェブサイトからダウンロード可能です。また、独自のテストプログラムの作成や要求に合わせたカスタマイズも可能です。

試作基板をデバッグXJAnalyser

簡単な3ステップの手順でXJAnalyserにより、JTAGデバイスのピンをグラフィカルに表示します。ピンやバスをワンクリックで読み書きすることが可能です。

接続をトレースしたり、開放と短絡を確認する為にトグル信号を発生することも可能です。STAPL/JAMやSVF形式のファイルを使って、デバイスにプログラミングすることも簡単に行えます。

XJAnalyserを使えば、僅か数分で新しい基板のデバッグが始められます。XJAnalyserのオンラインチュートリアルを見る

テストとデバッグを容易にする設計 量産検査

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