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ニュース記事

XJTAG – November 2020

東海大学:日本で初めてバウンダリスキャンの講座を開設 ~XJTAGを活用して学生の理解に「飛躍的な進歩」~

東海大学 情報理工学部 コンピュータ応用工学科では、「情報工学」「コンピュータシステム」「知能ロボット工学」の3分野でコンピュータを生活に役立てるための技術を探究することを目的に、ハードウェアとソフトウェアの両方をバランスよく習得します。その実践的な学習アプローチに、主要なバウンダリスキャンサプライヤーであるXJTAG社と協力して、日本で初めてバウンダリスキャンの講座を開設して、学生の学習体験に「飛躍的な進歩」をもたらしました。
Nikkei – November 2016

米ケイデンス・デザイン・システムズ、OrCAD Capture向けXJTAG DFT Assistantを発表

2016年11月8日、米国カリフォルニア州サンノゼ市 — ケイデンス・デザイン・システムズ社(NASDAQ: CDNS)は、OrCAD® Captureが、回路図入力およびプリント基板設計システムのDesign For Test(DFT)及びデバッグ機能を大幅に向上する利便性の高いインターフェイスであるXJTAG® DFT Assistantを統合し、強化されたことを発表しました。 バウンダリスキャンのハードウェア、およびソフトウェアツールを供給するXJTAG社によって開発されたXJTAG DFT Assistantによって、PCB製造前の設計段階でJTAG不具合を検出し修正することができるようになり、設計のリスピンやプロジェクトの遅延を回避することが可能になります。
Also available in: English, Français
XJTAG Cadence Case Study
Gicho / Electronics Packaging Technology (Japan) – September 2009

XJTAGバウンダリスキャン手法で、コスト、不良品、開発期間を削減

エレクトロニクス実装技術 9月号 記事掲載
XJTAG Article

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富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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