circuit board image

ニュース記事

Nikkei – November 2016

米ケイデンス・デザイン・システムズ、OrCAD Capture向けXJTAG DFT Assistantを発表

2016年11月8日、米国カリフォルニア州サンノゼ市 — ケイデンス・デザイン・システムズ社(NASDAQ: CDNS)は、OrCAD® Captureが、回路図入力およびプリント基板設計システムのDesign For Test(DFT)及びデバッグ機能を大幅に向上する利便性の高いインターフェイスであるXJTAG® DFT Assistantを統合し、強化されたことを発表しました。 バウンダリスキャンのハードウェア、およびソフトウェアツールを供給するXJTAG社によって開発されたXJTAG DFT Assistantによって、PCB製造前の設計段階でJTAG不具合を検出し修正することができるようになり、設計のリスピンやプロジェクトの遅延を回避することが可能になります。
Also available in: English, Français
XJTAG Cadence Case Study
Gicho / Electronics Packaging Technology (Japan) – September 2009

XJTAGバウンダリスキャン手法で、コスト、不良品、開発期間を削減

エレクトロニクス実装技術 9月号 記事掲載
XJTAG Article
Xilinx Xcell Journal – October 2008

JTAG チェーンを使った高精度 システムおよびダイ内部の消費電力

通常、CPLD  やフラッシュ  メモリなどのプログラムは、バウンダリ  スキャン  チェーンを使用して行いますが、一人でも多くのエンジニアがバウンダリ  スキャンの強力な機能を利用して、ボードやシステムの動作に関する詳細情報を抽出できるとよいでしょう。
Also available in: English
XJTAG Article in Xilinx Xcell Journal

Ready to get started? Try XJTAG

computer

XJTAG のデモ

富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

デモを依頼

telephone

お問い合わせ

製品説明・資料請求・見積依頼などは、名前と電話番号で申込み下さい。あるいは、富士設備にまでメールでお問い合わせください。

workstation

無償評価版

XJTAG社と富士設備では、皆様の様々なご要求にお答えできるように、無料体験版、基板セットアップ、講習会を用意しています。

無償評価版を依頼

Join world leading companies using XJTAG Boundary Scan