XJTAG バウンダリスキャンテストによる JTAGテスト – パート3

XJTAGバウンダリスキャンテストのツールの概要。BGAを搭載する基板のデバッグ、FPGA、CPLD、マイコンやDSPを搭載するハードウェア回路基板のテストによる欠陥検出について。

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富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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