Curtiss-Wright 社 XJTAGをデバッグとテストに採用

Curtiss-Wright は、PowerPCを用いた画像処理基板のデバッグとテストに、XJTAG社製バウンダリスキャンテストツールを採用しました。それにより、BGA、SDRAM、イーサネットコントローラ、ビデオインターフェイス、Flashメモリ、FPGAなどを搭載する高密度実装基板のテストが可能となりました。

 

“従来式のデバッグ手法(フライングプローブ、ロジアナ、オシロ、X線検査)では困難であった、BGAデバイスやJTAG未対応デバイスに対してとても迅速にデバッグできるようになりました”

“弊社ではFPGAを多用していますが、XJTAGのXJAnalyser機能を用いることで、数千に及ぶ全てのFPGAとJTAGデバ イス信号を読み書きし、視覚的に検証ができるようになりました” Stuart Allen, senior hardware engineer at Curtiss-Wright’s video and graphics group.

XJTAGは製品開発ライフサイクルを通じて基板のデバッグ、プログラミング、テストをサポートする効率の良い開発ツールです。早期段階 からプロトタイプデバッグ、CADネットリストを用いてのデザイン検証、機能テストの開発、プロジェクト間の再利用が行えるようになり、開発工数・費用を飛躍的に削減します。

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“XJTAGバウンダリスキャンテスト ツールを採用した理由は、価格、素早く正確に欠陥解析できること、デバイスセントリックなテストは複数プロジェクトで再利用できること、プロトタイプ開発から製造テスト、フィールドテストにまで利用できることなど”

Alan McCormick, Managing Director, Video and Graphics Group – Curtiss-Wright

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富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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