革新の車載システムもXJTAGバウンダリスキャンでテストおよびプログラミングを加速

XJTAG Case Study - MTA Advanced Automotive Solutions

MTA S.p.A社(伊)は、様々なタイプの車両に高度な計器を提供しています。この高機能の組み込みシステムは社内で量産・検査されますが、テストとプログラミングにバウンダリスキャンを使用して品質と効率を向上させるために、XJTAGを採用しました。
他社製品に比較して、テストの開発環境が強力であり、テクニカルサポートも優れていたためです。

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主要なバウンダリスキャンシステムを評価した結果、XJTAGの優れた機能とサポートを選択しました。

開発環境は強力な機能を持ちながら分かりやすく、直感的なユーザーインターフェースを備えています。 XJRunnerは、NI LabVIEWで開発されたPCベースのテストソフトウェアと統合されています。

XJTAGのエンジニアは、すべての質問に迅速かつ効率的に答え、JTAGテストやツールの機能に対する学習が加速しました。 さらにXJTAGが提供する大規模なデバイステストライブラリへの無料アクセスや、必要に応じてカスタムテストスクリプトの作成に関する専門家のサポートなど、素晴らしいバックアップを受けました。

Alberto Neri, Test Manager – MTA S.p.A.

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富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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