eペイメントの信頼を獲得したXJTAGバウンダリスキャンテスト

eペイメントシステムを提供するWorldline社は、高品質のサービスを安定して提供するために実施するテスト環境に、XJTAGバウンダリスキャンを採用。XJTAG社の優れたサポートの支援もあって、Worldline社は、テストカバレッジを30%改善。テストサイクルを半減して、テストハードウエアのコストは60%削減できた。

Worldline社は、その優れたセキュリティ技術から、金融業界に広くその存在が認められる。この評判を維持するために開発エンジニアは、支払端末などの機器(ハッカーによるアクセスができない安全システムを搭載する)の堅牢性を評価する仕組みを構築。このテスト環境に対して、XJTAG社のXJRunnerテストシステムを導入した。

現在XJRunnerは、Worldline社内のテストやリペア、契約工場の製造ラインで使用されている。加えてWorldline社の付加価値再販業者(VAR)にも提供して、ローカルにテストやフラッシュメモリへの再プログラミングができるようにした。現在40拠点に展開されており、今後更なる拡張を計画している。

このWorldline社で活用されるテストプログラムの開発とメンテナンスは、XJTAG社により支援され、工数とコストを削減すると同時に、最大限にその技術が活用されている。“柔軟に我々の要求するテストを提供するXJTAG社のサポートは、他社に比較して費用対効果が高い”  – Leone Alfano氏, Worldline社 Industrialization Test Specialist

不良解析を支援するレイアウトビューア―や回路図ビューアを搭載するバウンダリスキャンテストを実行するためのXJRunnerは、複数基板を同時に試験すること、シリアル番号の記録などの機能で、量産ラインの試験に活用される。

Worldline 社では XJRunnerを National Instruments社 LabVIEW™ のテスト環境に統合。これにはXJTAG .NET API と Virtual Instruments (VIs) を活用して、迅 速かつ容易に統合が行えた。

“LabVIEWへの統合の容易さと適切なサポートは、他社製品に対するXJTAGのアドバンテージの一つになりました” – Leone Alfano氏

Worldline社ではLabVIEWのテスト環境の、電源電圧の検証やRF回路の自動テストにもXJRunnerを利用する。RFテストの処理は、 XJRunnerによって基板のトランスミッター出力を有効・無効化させて、デジタルオシロスコープでRFキャリア信号を自動検証させている。

Leone Alfano氏はXJTAGの選択に よりWorldline社にもたらされた効果を、次のように評している。

“製品ライフサイクルの全段階でXJTAGを導入し、テストカバレッジが少なくとも30%改善。テストサイクルを半減して、テストハードウエアのコストは60%削減できた。この成果に非常に満足しています。”

XJTAG 社の製品技術と柔軟なサポートは他社を圧倒する

LabVIEWへの統合の容易さとサポートの良さは他社製品の比較にならない。

製品ライフサイクルの全段階でXJTAGを導入し、テストカバレッジが少なくとも30%改善。テストサイクルを半減して、テストハードウエアのコストは60%削減できた。この成果に非常に満足しています。

Leone Alfano, Industrialization Test Specialist – Worldline

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