防衛システムに活用される XJTAG バウンダリスキャンテストシステム

”防衛、宇宙システムを開発するTecnobit 社(スペイン)は、テスト効率とカバレッジを最大にするために、バウンダリスキャンテストを10年以上活用しているが、他社製品に比較して性能と価格優位性、技術サポートに優れた XJTAG を採用”

Eurofighter(ユーロファイター:英・独・伊・スペイン共同開発中の戦闘機で日本の次期支援戦闘機の一候補)に搭載されるForward Looking Infrared(FLIR 赤外線前方監視装置)の開発にあたり、バウンダリスキャンテストに経験豊富な Tecnobit 社のエンジニアは、新しく XJTAG 社の製品を採用した。社内で実装される製品基板は、視覚検査の後、ファンクションテストが実施される前に XJTAG バウンダリスキャンシステムを用いてテストされる。”バウンダリスキャンテストを行う最大の理由は、テストカバレッジの向上と、製造上の欠陥を迅速かつ簡単に検出させること。XJTAG によって視覚検査では見つからなかった欠陥を検出し、機能テストの前に修正することができた” -David Moreno氏(Tecnobit 社テストシステムマネージャ)

Eurofighter のFLIR 基板には、視覚検査やプローブ、インサーキットテスタでは検査が出来ないBGAパッケージのFPGA(MPU内蔵で非常に多くのピンを有する)を搭載。しかしながらバウンダリスキャンならBGAの接続状態が検査可能であり、またSDRAM、Flashメモリ、イーサネットチップ、A/D、D/Aコンバータなど周辺デバイスの実装や機能テストも実施できる。”殆どのバウンダリスキャンテストシステムを評価し、多くの理由からXJTAGを採用することにした” -David Moreno氏 ”XJTAG は必要な機能を備え、他社製品と同等以上でありながら、コストパフォーマンスに優れている。そして技術サポート力に優れていた”  製品ごとに異なる専用のテストを作ることや、新しくバウンダリスキャンを採用する組織にとって、質の高い技術サポートは極めて重要な要素となる。

Tecnobit 社では独自開発している機能テスト装置にXJTAG の統合を計画している。XJTAGならバウンダリスキャンを19インチのラックマウントシステムへコンパクトに統合させることができるので。そして他の機器と統合するための様々な機能を提供している。専用API(XJAPI)・USB通信ポート・PXIバス対応ハードウエアなどを介して、JTAGバウンダリスキャンチェインに接続すること。また標準のCOMインターフェイスで、National Instruments LabVIEW™ や LabWindows™/CVI などのテスト実行環境に統合させることも出来る。

XJTAG に搭載される機能を活用して、新しい設計の検証時間も加速している” ともDavid Moreno氏は表明している。XJTAGの革新のコネクションテストなら、より多くの基板接続を検査して欠陥箇所と状態をレポートできる。その上、デザインforテスト解析(DFT)機能により、高いカバレッジを満たすことが出来る。”XJTAG のハイレベルなテスト記述言語と機能デバイスごとにテストを再利用できる仕組み(デバイスセントリック・アプローチ)は類が無く、テスト開発速度を向上させることと、他プロジェクトへの再利用に貢献している”

“バウンダリスキャンを最大限に活用してテストカバレッジを上げること、欠陥検出と修正を迅速に行うこと。最もコスト効率が良いのがXJTAG”

“殆どのバウンダリスキャンテストシステムを評価し、多くの理由からXJTAGを採用した。XJTAG は必要な機能を備え、他社製品と同等以上でありながら、コストパフォーマンスに優れている。そして技術サポート力に優れていた”

“XJTAG を用いることで、機能テストを実施する前に多くの欠陥を明らかにして修正することが出来た。そして新設計の検証も迅速に行えている。XJTAG は最もコスト効率の良いバウンダリスキャンツールとして、テストのカバレッジを上げて、欠陥検出と修正のスピードを加速している”

David Moreno, Test Systems Manager – Tecnobit

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