ARM® 社（世界有数の半導体 IP プロバイダ）では XJTAG バウンダリスキャン開発システムをデバッグ、テストを効率化するために採用し、RealView 開発ツールの多層・高密度実装ターゲット開発にかかる時間と費用を削減しました
ARM® は、携帯機器、ネットワーク、デジタル家電、画像、自動車、セキュリティ、そしてストレージ機器といった高度なデジタル製品のコアとなっています。ARMが提供する総合的な製品には、16/32 ビット組込みRISC マイクロプロセッサ、データエンジン、3Dプロセッサ、デジタルライブラリ、組み込みメモリ、ペリフェラル、ソフトウェア、開発ツールならびにアナログ機能と高速コネクティビティ製品が含まれます。
ARM 社ではSoC IP製品をサポートするために、ソフトウエア、ハードウエア、開発ツールを提供しています。例えば、RealView® はARM プロセッサをベースにした製品の試作に理想的なソリューションであり、アーキテクチャーやCPUおよびハードウエアの評価、ソフトウエアデザイン、ASICのエミュレーションに最適な開発環境です。これら開発用プラットフォームは極めて複雑・高実装な12～16層基盤であり、プロセッサ、ASIC、FPGA、CPLDなどピン数の多いBGAが複数実装されています。
“弊社の開発用プラットフォームは開発に於けるリスクを顕著に低減し、タイムtoマーケットを短縮するために設計され、あらゆる製品領域にわたって採用されています” ─ ARM 社 Spencer Saunders, engineering manager, platforms, Development Systems
“ボード上の何万というピンを前にして、これらの正当性の確認はバウンダリスキャンテストシステム無しには現実的に不可能であると察しました” 複数の比較製品を評価した結果、ARM 社の Cambridge, UK にある開発エンジニアリングチームは、XJTAGバウンダリスキャン開発システムを選択しました。
XJTAGシステムにより、デバッグやテストのプロセスを加速・促進し、90%近くまでテストのカバレッジを高めながら、飛躍的に製造効率を向上することも出来るようになりました。
“XJTAGは汎用性に富み、素晴らしい機能と性能で、BGAやチップスケールパッケージを含む、JTAG対応、未対応(クラスターデバイス)両デバイスのテストに利用することが出来ます。” ─ ARM 社 Andy Evans, senior product engineer, platforms, Development Systems
“XJTAGは簡単に使用できて、JTAG未対応デバイスに対してのテストスクリプトは、ボードの設計に応じて記述され、またデバイスセントリックであるため、複数のプロジェクト間で再利用可能となり、ARM社において相当な時間を削減することが出来ました”
ARM社では最新版のRealViewプラットフォームボードのデバッグとテストにXJTAGを用いています。そして、XJTAGのデザインフォーテスト（DFT）機能により、ボードのデザイン初期段階から設計を改善し、再版を減らすことにも役立てています。
“XJTAGのDFTは非常に強力な機能で、多くの時間を削減できるようになりました。新たな追加回路によるネットリストの変更を自動的に処理し、手作業でネットリストからエラーを解析するような手間のかかる作業を回避できるためです” ─ Spencer Saunders
“加えてXJTAGによる回路をビジュアル表示する強力な機能により、複数あるBGAデバイスのピンの状態を簡単に目視できるようになり、ボード上の特定の欠陥を素早く突き止めて全デバッグプロセスを加速することができるようになりました。”
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