MTA S.p.A社（伊）は、様々なタイプの車両に高度な計器を提供しています。この高機能の組み込みシステムは社内で量産・検査されますが、テストとプログラミングにバウンダリスキャンを使用して品質と効率を向上させるために、XJTAGを採用しました。他社製品に比較して、テストの開発環境が強力であり、テクニカルサポートも優れていたためです。
品質と安全性が最も重要な先進的な車載エレクトロニクスの世界でMTA S.p.A社は、自動車、オートバイ、トラック、バスの革新的計器のリーダーです。MTAのダッシュボードとインフォテインメントセンターは、スマートかつダイナミックでカラフルなユーザーエクスペリエンス、妥協を許さない明快さ、使いやすさ、優れた安全性、品質、価値観を提供するために、高性能プロセッサ、高速メモリ、および最先端の通信インターフェイスを備えています。
自社製品を製造するために、最高の品質保証を提供し、生産スループットを最大化するための強力なテスト施設が必要です。その改善に継続的に取り組むMTAのテストエンジニアは、バウンダリスキャンを製品開発および量産検査に導入することを選択しました。彼らはXJTAG開発システムを導入してテストを作成し、実行しています。また、量産検査ではテスト実行専用ツール（XJRunner） を使用して、SPEA社のインサーキットテストシステムによって提供される機能を統合し、強化しています。これにより、I / OピンにアクセスできないCSPやBGAパッケージ部品にまでテストカバレッジが拡張されます。 小さなPCBフットプリント内に多数のI / Oピンの要求を満たすために、メモリ、FPGA、プロセッサなどの部品は、これらのパッケージへの依存傾向が増しています。
Alberto Neri氏（MTAのテストマネージャ）は、XJTAGを選択した理由について説明しています。「主要なバウンダリスキャンシステムを評価した結果、XJTAGの優れた機能とサポートを選択しました」
「開発環境は強力な機能を持ちながら分かりやすく、直感的なユーザーインターフェースを備えています。弊社の製品ラインを考えれば、明確で使いやすいことが、ツールの選択において高い優先事項でした」
ユーザーインターフェースの質に加えて、XJTAG社のサポートの良さも決定に大きな影響を与えたことも強調しています。「XJTAGのエンジニアは、すべての質問に迅速かつ効率的に答え、弊社内のJTAGテストやツールの機能に対する学習が加速しました。さらにXJTAGが提供する大規模なデバイステストライブラリへの無料アクセスや、必要に応じてカスタムテストスクリプトの作成に関する専門家のサポートなど、素晴らしいバックアップを受けました。 XJTAGシステムは、接続性、プル抵抗およびロジックテストなどのテストを自動化し、メモリなどの数千種類のデバイスのテストを提供します。加えてXJTAGシステムは、DFT（Design for Test）解析を介して、カバレッジをさらに向上させ、テストの最適化を可能にし、テストサイクル全体の時間を短縮します」
MTAではインサーキットテストのカバレッジや効率を向上させるためにXJTAGを使用するだけでなく、 CPLD、フラッシュメモリ、マイクロコントローラなどのデバイスをプログラムするためにもXJRunnerを使用しています。XJFlashなどのオプションを使用することで、理論上最速に近い速度でフラッシュメモリをプログラムすることができます。
基板上のデバイスをインラインでプログラムできるXJTAGの機能で、デバイスを個別にプログラムする作業を排除して、製品の組立を合理化し、効率とスループットを向上させます。「XJRunnerはNI LabVIEWで開発されたPCベースのテストソフトウェアと統合されて、馴染みのある環境で効率的に作業できています」- Alberto Neri氏
「XJTAGを使用してテストとインシステムプログラミングがより高速で効率的になりました」
