circuit board image

ニュース記事

Xilinx Xcell Journal – October 2008

JTAG チェーンを使った高精度 システムおよびダイ内部の消費電力

通常、CPLD  やフラッシュ  メモリなどのプログラムは、バウンダリ  スキャン  チェーンを使用して行いますが、一人でも多くのエンジニアがバウンダリ  スキャンの強力な機能を利用して、ボードやシステムの動作に関する詳細情報を抽出できるとよいでしょう。
Also available in: English
XJTAG Article in Xilinx Xcell Journal

Ready to get started? Try XJTAG

computer

XJTAG のデモ

富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

デモを依頼

telephone

お問い合わせ

製品説明・資料請求・見積依頼などは、名前と電話番号で申込み下さい。あるいは、富士設備にまでメールでお問い合わせください。

workstation

無償評価版

XJTAG社と富士設備では、皆様の様々なご要求にお答えできるように、無料体験版、基板セットアップ、講習会を用意しています。

無償評価版を依頼

Join world leading companies using XJTAG Boundary Scan