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ニュース記事

Gicho / Electronics Packaging Technology (Japan) – September 2009

XJTAGバウンダリスキャン手法で、コスト、不良品、開発期間を削減

エレクトロニクス実装技術 9月号 記事掲載
XJTAG Article

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富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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