XJDeveloper-グラフィカルインターフェイス
XJDeveloper は、基板テストの設定・実行を、簡単・迅速に行なえるグラフィカルなツールです。XJDeveloper のテストスクリプトは、製品設計時のデバッグから製造工程まで再利用が容易で、製品市場投入までの期間を削減できるようになります。
XJDeveloper に搭載されるコネクションテストと、JTAG 未対応デバイスに対応する XJEase により、基板実装のオープン・ショートエラーを検査します。テストの開発やカスタマイズが容易なXJDeveloper では、ネットリスト・エクスプローラ機能によりデバイス間の接続情報を提供し、DFT(デザインforテスト)機能によりテストのカバレッジを解析することも可能です。
XJDeveloper は、JTAG デバイス(CPLD, FPGAなど) や、JTAG未対応デバイス(EEPROM, Flashなど)へのプログラミングもサポートしています。
XJDeveloper データ資料
(PDF,
375k) | 全てのデータシートをみる
機能
- アドバンスト・コネクションテスト(実装テスト)

他のJTAGツールよりも高い割合でテストが行われ、より高精度な欠陥検出機能を備えています - 柔軟な、高級レベル言語でテストを記述

・テストの作成が容易になるように設計された高レベルの言語。 - デバイスセントリックなアプローチ

デバイスごとのテストは、あらゆる基板に対して、修正無しに再利用できる。 - JTAG未対応デバイスに対するテストとプログラミング

JTAGチェイン上のデバイスに接続されたJTAG未対応デバイスも、イーサネット・ループバック試験のような機能テストなど、JTAGデバイスと同様に操作することができます。 - 無償テストライブラリー

汎用部品のテストをダウンロードで提供しています。 - JTAG 動作に対する理解は不要

基板上のJTAG チェインの操作は、XJTAG システム内で解決される。
- デバイスのプログラミング
SVFとSTAPL形式で、デバイスのプログラミングができ、XJEaseから実行も出来ます。また、XJEaseスクリプト例 を使えば、イメージを直接プログラミングできる。 - 独自のアプリケーションと統合させて、完全なテストシステムを構築できる。
- 1149.1 および1149.6 デバイスをサポート。
アドバンスド・コネクション・テスト
A 独自開発の接続テストがスクリプトの一部として基板上で行われます。回路内のデバイス間の相互接続と特性を考慮に入れて、XJTAGは他の多くのツールより高い割合のテストを実施します。また、回路内のデバイスの状態をモニターすることで、不具合発生場所に関する詳細な情報と不具合の正確な種類を得ることも可能です。
XJEase – 柔軟な、高級レベル言語でテストを記述
変数、ループ、実行制御といった全てのプログラム言語の柔軟な強みが、デバイスや回路のテストを開発するために使用されます。XJEaseの高レベルなプログラムを用いて必要なテストパターンを生成し、他のJTAGツールでは不可能であった複雑なテストが容易に開発可能です。
デバイスセントリック-再利用できるテスト
XJEaseのテストシステムの構築には、JTAG技術そのものへの理解は不要です。XJEaseを使って書かれた全てのデバイステストプログラムは、テスト対象回路に依存しません。デバイスの視点で書かれます:これは、テスト実行に必要なピンのレベルと、期待値として関連するピンの状態を規定します。次にXJTAGは、回路に対する情報を用いて、所要の入力を行うテストパターンを作成します。つまり、一度デバイスに対するテストプログラムを作成すれば、どんな回路に対しても追加の作業無しに再利用されます。
JTAG未対応デバイスに対するテスト、プログラミング
XJEase を用いて、JTAG未対応デバイスのテスト、プログラミングができます。 例えば、Flash, RAM, FIFO, IIC devices, SPI devices and Ethernet controllers など。
テストは、ライブラリとして無償で提供しています
デバイステストファイルがダウンロード可能です。Flashやその他のデバイスへのプログラミング例もあります。そのためJTAGを使用した経験の無い方でも、特別なプログラミング無しに、完全な機能テストシステムを構築できます。
JTAGの動作への理解は不要
JTAG未対応デバイスへのテストを作りたい場合でも、JTAGの仕組みや動作を意識することなくプログラミングできるようになっている為(高級言語による抽象化)、容易かつ迅速に開発することができます。
XJTAG は、JTAGデバイスからアクセス可能なネット上のテスト対象デバイスのピンをチェックし、適切なJTAGデバイスのピンを操作できるようになっています。
同様に、一旦デバイスのテストプログラムを入手すれば、そのデバイスが他の回路の一部である限り、再利用可能です。
複数の基板
複数基板のテストも、単一基板のテストと同様に簡単に実行可能です。複雑な結合手順はありません。XJEase にネットリストを設定し、相互接続の状態を設定するだけです。それ以外の全ての作業は、実行時に XJEase が処理します。
テストの実行
テストはXJDeveloper からも実行させることや、目的に応じた別の実行手段を提供。
XJRunnerは、製造検査やメンテナンスサービスなどの現場用のテスト実行ツールです。これは、基板製造業者や現場でのインフィールドテスト向けに特化した製品で、テスト結果のログ機能、シリアル番号の生成機能やユーザーの管理機能が追加されています。他のテストシステムへ統合する為のインターフェイスも用意しています。
XJDebug は開発と試作の段階で使える XJEase へのコマンドラインのインターフェースです。クラシックスタイルのデバッガを包括しており、以下の機能が使えます。
- コード一行毎のステップ実行
- ブレークポイントの削除とセット
- コード内での変数値のセットと確認
- ハードウェアの相互作用を記録することで事後確認が可能
ネットリスト
ネットリストは、EDIF 2 0 0, RINF, Protel, PADS-PCB, Cadence Allegro, P-CAD, Genrad, BoardStation (Mentor), Zuken, Protel V2 など、50以上のフォーマットをサポートしています。未対応のものでも、XJTAG社で変換ツールを作成し、追加サポートします。
XJTAGシステムに関するご質問や、価格等のお問合せは、弊社(あるいは富士設備)まで連絡下さると幸いです。

