XJTAG DFT Assistant für Zuken CR-8000

NEW  Kostenlose ‚Design For Test’ (DFT)-App

Das neue XJTAG® DFT-Assistant for Zuken CR-8000-Software-Plugin wird Ingenieuren das Erkennen und Beheben von möglichen JTAG-Testbarkeitsproblemen bereits früh in der Entwurfsphase ermöglichen. Weil viele IC-Pakete unzugänglich für physische Tests sind, kann eine Nichtbeachtung dieser Chips während der Testphase in Board-Respins und kostspieligen Projektverzögerungen resultieren.

Der XJTAG DFT-Assistant wird Ihnen helfen, die korrekte Umsetzung der Boundary Scan-Ketten* zu validieren, sowie die Erfüllung der bestmöglichen „Design for Test”- Optionen ermöglichen. Darüber hinaus wird die JTAG-Compliance auch eine ganze Reihe weiterer Vorteile für Ihr Board bringen, z.B. das schnellere Debuggen von Prototypen und Geräteprogrammierungen sowie schnellere und kostengünstigere Fertigungstests.

* Die App setzt keine speziellen Kenntnisse der Entwickler über Boundary Scan-Testverfahren voraus.

XJTAG DFT Assistant for Zuken CR-8000: JTAG Chain Checker

XJTAG Chain Checker

Nach nur vier einfachen Schritten wird der XJTAG Chain Checker in der Zuken CR-8000-App die Netzliste analysieren und eine routbare Scankette generieren können. Diese spezielle DFT-Funktion wird auch prüfen, ob alle TAP-Signale richtig terminiert sind.

Der Chain Checker wird potentielle Fehler und Warnungen für JTAG-Ketten identifizieren.

Dabei werden auch falsche Kontaktierungen der Test Access Points (TAPs) entgegen der BSDL-Dateien einer JTAG-kompatiblen Komponente erkannt werden. Falsche Terminierungen werden als Warnungen ausgegeben und bei den Compliance Pins wird erkannt werden, wenn sie fälschlicherweise auf High oder Low terminiert oder potentialfrei gelassen wurden.

XJTAG Access Viewer

Die XJTAG DFT Assistant-App wird auf dem gesamten Schaltplan erkennen, welche Signale für einen JTAG-Test zugänglich sind. Die Ergebnisse werden dabei als farblich eingefärbte Netze im Schaltplan angezeigt werden. Der Anwender wird dann wahlweise zwischen folgenden Kategorien von Netzen wählen können: Lesen, Schreiben, Stromversorgung/Masse und Netze ohne JTAG-Zugriff im Schaltplan.

Die Testabdeckung wird übersichtlich dargestellt und auch das Ein- und Ausblenden im Schaltplan kann übersichtlich dokumentiert werden. Schnell wird sich erkennen lassen, wo die Testabdeckung unzureichend ist und an welcher Stelle noch nachgearbeitet werden muss.

Spezifikationen

  • In Zuken’s CR-8000 Design Gateway als App integriert
  • Einfaches Aufsetzen der Leiterplatte für eine JTAG DFT-Analyse
  • Automatischer Netzlisten-Import aus CR-8000
  • Enthält JTAG Access Viewer zur Anzeige der testbaren Netze im Schaltplan
  • Analyse der XJTAG Chain Checker Ergebnisse mit Fehler-/Warning Report
  • Wird drei Arten von Fehlern anzeigen: Falsche Verbindung, Falsche Terminierung und Compliance-Warnungen
  • Die Ergebnisse werden als farblich eingefärbte Netze im Schaltplan angezeigt werden
  • Kategorisieren von logischen und passiven Bauteilen, um die Scan Chain zu maximieren
  • Export von Projekten zur Entwicklung der Fertigungstests (mit XJDeveloper)

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