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20 July 2010

XJTAG社 Micron社製 相変化メモリ(PCM)をJTAG テストツールでサポート

XJTAG社はMicron 社 Phase Change Memory (PCM) の最初のサポートを明らかにした。 PCM(相変化メモリ)はシステム性能を強化することに加えて基板実装後にプログラミングができる。XJTAG 社は Micron 社と協力し、最大書き込み速度でPCMへプログラミングできる機能をXJTAG バウンダリスキャンシステムに追加した。これにより顧客は製品や開発レベルでPCMに対して即座にプログラミングが行える。これは XJTAGの高速Flashプログラミング機能であるXJFlash で実現される。
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07 January 2010

XJTAG社 XTRシリーズを発表

XJTAG バウンダリスキャンの第二世代となるXJTAG XTRシリーズを発表した。 このXJTAG XTRシリーズには既存のXJTAG開発システムに加え、複数JTAGチェイン対応、電圧・周波数測定など数々の新機能と使い勝手の強化が施された。
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XJTAG のデモ

富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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