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10 June 2013

XJTAG社 バウンダリスキャンテスト機能をXJInvestigatorで拡張

XJTAG社、電子基板のデバッグ・解析の新機能としてXJInvestigatorを発表。 XJInvestigatorはXJTAG社JTAGバウンダリスキャンテスタの最新版(v3.1)に搭載される。また新たな機能追加であるFault Dictionaryによって欠陥の診断作業がステップバイステップに支援される。他にも最新版ではコードエディタ、ユーザ承認機能、追跡調査の支援などが強化される。
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XJTAG のデモ

富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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