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08 November 2016

米ケイデンス・デザイン・システムズ、OrCAD Capture向けXJTAG DFT Assistantを発表

米国カリフォルニア州サンノゼ市 — ケイデンス・デザイン・システムズ社は、OrCAD® Captureが、回路図入力およびプリント基板設計システムのDesign For Test(DFT)及びデバッグ機能を大幅に向上する利便性の高いインターフェイスであるXJTAG® DFT Assistantを統合し、強化されたことを発表しました。 ハードウェア製造前の設計段階において早期に回路基板の不具合の検出・修正を可能にするソフトウェアインターフェイス
XJTAG Cadence Case Study

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XJTAG のデモ

富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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