XJTAG社　バウンダリスキャンテスト機能をXJInvestigatorで拡張

Cambridge, England, 2013年7月10 — XJTAG社、電子基板のデバッグ・解析の新機能としてXJInvestigatorを発表。

XJInvestigator はXJTAG社JTAGバウンダリスキャンテスタの最新版（v3.1）に搭載される。XJTAG社ツールは開発段階のプロトタイプから製造基板まで製品ライフサイクルを通じて活用される。

XJInvestigatorでは洗練された欠陥検出とデバッグ機能を備え、基板製造検査時の欠陥解析・診断を支援。 Layout Viewer レイアウトビューアやピンマッピング機能によって、BGAデバイスのようなプローブ接続ができない箇所であっても直ちに突き止めて問題解決に当たることができる。

“XJInvestigatorのリリースによりXJTAG社ツールのテスト機能を拡張できる”－Simon Payne氏 CEO 　“XJInvestigatorでは、シンプルなパス・フェイルの判定から、直ちに欠陥の詳細な診断へと問題の原因解明に貢献する”

また新たな機能追加であるFault Dictionaryによって欠陥の診断作業がステップバイステップに支援される。他にも最新版ではコードエディタ、ユーザ承認機能、追跡調査の支援などが強化される。

JTAGバウンダリスキャンテストを最大限に活用することに興味を持つ組織に向けて、XJTAG 社では30日間の無償評価版を用意している。そしてこれには基板へのテスト設定も無償提供される。

更なる情報は、www.xjtag.com あるいは enquiries@xjtag.com.

国内連絡先は、富士設備工業株式会社電子機器事業部：〒591-8025 大阪府堺市長曽根町1928-1 電話 072 (252) 2128 email info@fuji-setsu.co.jp、www.fuji-setsu.co.jp/products/XJTAG。

XJTAG 社について (www.xjtag.com)

XJTAG社はIEEE Std. 1149.x準拠のバウンダリスキャンテストの第一人者として、イノベ―ティブな製品と高品質な技術サポートを提供。英国ケンブリッジに本拠を構え、世界中に50社以上の専門代理店、技術パートナーを擁する。XJTAG のバウンダリスキャンテスタは、航空宇宙、自動車システム、防衛、医療機器、産業機器、ネットワーク通信システムなど広範な顧客に活用されている。