XJTAG社 Micron社製相変化メモリ（PCM）をJTAG テストツールでサポート

XJTAG は Micron 社 Phase Change Memory の高速プログラミングに対するテストと開発ツールを提供

不揮発性メモリへの高速プログラミング手法の資料を公開

Cambridge, England, July 20, 2010 — XJTAG社はMicron 社 Phase Change Memory (PCM) の最初のサポートを明らかにした。

PCM（相変化メモリ）はシステム性能を強化することに加えて基板実装後にプログラミングができる。XJTAG 社は Micron 社と協力し、最大書き込み速度でPCMへプログラミングできる機能をXJTAG バウンダリスキャンシステムに追加した。これにより顧客は製品や開発レベルでPCMに対して即座にプログラミングが行える。これは XJTAGの高速Flashプログラミング機能であるXJFlash で実現される。

“PCM はNOR、NAND、DRAM それぞれの優れた特性を合わせ持ち、今後避けることのできない最新メモリ技術である。XJTAGからプログラミング機能が提供されたことで、PCMが容易に製品環境に展開できることに満足している”　-Jeff Bader 氏 Micron 社 embedded group　senior director of marketing

XJTAG バウンダリスキャンシステムは高速で、開発にも製造部隊でも使いやすく、高い抽象度でテストプログラミングが出来る環境や、グラフィカル環境で回路をビジュアル化し、自動実装テストやDFT解析を提供する。加えてXJTAG の斬新なソフトウエアはバウンダリスキャンチェインで最大限のテストカバレッジを算出することや、メモリやPLDなどのプログラミングを促進することもできる。

“この重要な最新メモリ技術への初めてのサポートとなったことに加えて、システムレベルのプログラミング速度を最大化することにも成功した。これは高速メモリプログラミングができる便利で効率の良いツールを求めている開発者への朗報となる” -Simon Payne XJTAG 社 CEO

XJTAG のJTAGバウンダリスキャンを介したデバッグ・テスト・プログラミング機能を伴って、XJFlash はPCMへのプログラミングや、FPGA、CPUとJTAGチェインを介して正しく接続されていることの検証が行える。

“この XJTAGシステムの機能強化により、Micron 社 PCM デバイスへの高速プログラミングが行える。これは、BGA/FPGA/Flash などを搭載する複雑な基板へのプログラミング・デバッグ・テストを製品ライフサイクルにわたって活用できるということ” -Simon Payne

不揮発性メモリへの高速プログラミングに関する資料を次のサイトで用意している。 www.xjtag.com.

XJTAG社への連絡は、XJTAG, St John’s Innovation Centre, Cowley Road, Cambridge CB4 0DS, UK。
電話 +44 (0) 1223 223007、fax +44 (0) 1223 223009、email enquiries@xjtag.com、www.xjtag.com.

国内連絡先は、富士設備工業株式会社電子機器事業部：〒591-8025 大阪府堺市長曽根町1928-1 電話 072 (252) 2128 www.fuji-setsu.co.jp email info@fuji-setsu.co.jp。

XJTAG 社について (www.xjtag.com)

XJTAG 社は、IEEE 1149 スタンダード準拠のバウンダリスキャン開発システムのリーディングサプライヤー。早期段階から再利用可能なXJTAG のテストを活用することでハードウエアの開発と製造工数を飛躍的に削減できる。XJTAG開発システムのハードウエアデバッグとテストは、JTAG、JTAG未対応デバイス（SDRAM、Ethernet コントローラ、ビデオインターフェイス、Flash、FPGA、MPUなど）の両方に活用される。そしてFPGA、CPLD、Flashなどへのインシステムレベルのプログラミングをサポートする。

XJTAG社は英国ケンブリッジに本社を構え、ワールドワイドに代理店網を活用して製品とサポートを提供している。