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Afin de célébrer les 30 ans du concept JTAG, XJTAG lance une offre exceptionnelle à Productronica, le plus grand salon professionnel mondial consacré au développement et à la production de produits électroniques. À l'occasion du 30e anniversaire de l'IEEE 1149.1, XJTAG va donc distribuer 150 systèmes XJAnalyser (d'une valeur de 6 500 € chacun) entre novembre 2019 et le 31 décembre 2020. Pour être éligibles, les clients potentiels doivent bénéficier d'un essai sans engagement de la suite de produits XJTAG, sur la base d’une configuration gratuite de leur premier projet test par XJTAG.

XJTAG annonce la sortie de son dernier logiciel qui aide les ingénieurs à travailler plus efficacement et à développer des programmes de test plus performants. XJTAG 3.9 introduit une nouvelle API qui offre au développeur toute la puissance du boundary scan pour contrôler individuellement les broches des composants dans ses propres codes de test, un éditeur permettant de créer des modèles de composants dotés d'options configurables pour une réutilisation maximale, et des fichiers de « log » riches en données qui sont maintenant encore plus faciles à analyser par les systèmes de gestion de tests existants.

Zuken® et XJTAG® ont établi un partenariat visant à ajouter des capacités de testabilité des conceptions (DFT) à la suite CR-8000 de Zuken afin d’améliorer la couverture de test lors de la saisie du schéma. Cette capacité repose sur l’outil XJTAG DFT Assistant, et sera disponible dès cette année sous la forme d’un module complémentaire gratuit pour les utilisateurs de l’outil CR-8000 Design Gateway de Zuken.

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Les produits PADS incluent maintenant l'Assistant XJTAG DFT, ce qui fournit aux ingénieurs une interface gratuite et facile à utiliser pour vérifier si les chaînes JTAG sont correctement connectées et terminées dès le stade de la saisie de schéma, bien avant que la carte rentre en production.

En vedette dans: Electronique Composants & Instrumentation – ECI  |  lelectronique.com  |  VIPress.net

Cadence Design Systems, leader mondial de l’innovation en conception électronique, annonce que sa solution OrCAD® Capture intègre à présent l’outil XJTAG® DFT Assistant, une interface simple d’emploi qui augmente de façon significative les possibilités de conception en vue du test (Design for Test — DFT) et du débogage de son outil de capture schématique et de conception de circuits imprimés. La nouvelle interface logicielle permet de détecter et réparer les erreurs sur les circuits imprimés de façon précoce, avant l’entrée en production.

XJTAG lance aujourd’hui un nouvel outil appelé XJInvestigator qui permet une analyse poussée des erreurs de fabrication lors du test de cartes électroniques en production. XJInvestigator est mis à disposition avec la dernière version 3.1 des outils XJTAG. La mise à jour comprend aussi le nouveau ‘Dictionnaire des Défauts’ et des améliorations concernant l'éditeur de code pour la conception des tests.