Communiqués de presse disponibles en français

XJTAG annonce une version améliorée de XJFlash, son programmateur flash ultra-rapide in situ qui utilise l'interface JTAG pour se connecter à la carte cible. XJFlash peut être utilisé pour la programmation flash Xilinx Zynq® UltraScale™+ et Zynq-7000 SPI, ainsi qu'avec une large gamme de FPGA d'Intel/Altera, Lattice et Microsemi/Actel.

XJTAG annonce l’introduction de la prise en charge du Serial Wire Debug (SWD), des bibliothèques définies par l’utilisateur, d’un nouveau générateur d’horloge et d’autres avantages dans XJTAG 3.11, sa dernière version logicielle.

En vedette dans : Les Cahiers de l'Industrie Électronique et Numérique   |   Electronique Mag

XJTAG annonce l'arrivée de deux nouvelles fonctionnalités qui améliorent encore la facilité d'utilisation de ses outils boundary scan. XJTAG 3.10 introduit une méthode automatisée pour gérer les mises à jour de conception se produisant sur la carte électronique sous test, et un moyen simple de remplacer les paramètres par défaut des variables globales utilisées par dans les fichiers de composants « XJEase ».

En vedette dans :  Electronique Composants & Instrumentation (ECI)

Afin de célébrer les 30 ans du concept JTAG, XJTAG lance une offre exceptionnelle à Productronica, le plus grand salon professionnel mondial consacré au développement et à la production de produits électroniques. À l'occasion du 30e anniversaire de l'IEEE 1149.1, XJTAG va donc distribuer 150 systèmes XJAnalyser (d'une valeur de 6 500 € chacun) entre novembre 2019 et le 31 décembre 2020. Pour être éligibles, les clients potentiels doivent bénéficier d'un essai sans engagement de la suite de produits XJTAG, sur la base d’une configuration gratuite de leur premier projet test par XJTAG.

En vedette dans :  Electronique Composants & Instrumentation (ECI)

XJTAG annonce la sortie de son dernier logiciel qui aide les ingénieurs à travailler plus efficacement et à développer des programmes de test plus performants. XJTAG 3.9 introduit une nouvelle API qui offre au développeur toute la puissance du boundary scan pour contrôler individuellement les broches des composants dans ses propres codes de test, un éditeur permettant de créer des modèles de composants dotés d'options configurables pour une réutilisation maximale, et des fichiers de « log » riches en données qui sont maintenant encore plus faciles à analyser par les systèmes de gestion de tests existants.

En vedette dans :  Electronique Composants & Instrumentation (ECI)   |   L'Embarqué

Zuken® et XJTAG® ont établi un partenariat visant à ajouter des capacités de testabilité des conceptions (DFT) à la suite CR-8000 de Zuken afin d’améliorer la couverture de test lors de la saisie du schéma. Cette capacité repose sur l’outil XJTAG DFT Assistant, et sera disponible dès cette année sous la forme d’un module complémentaire gratuit pour les utilisateurs de l’outil CR-8000 Design Gateway de Zuken.

En vedette dans : Electronique Composants & Instrumentation (ECI)  |  Electronique Mag