JTAG Boundary Scan Test Systems (IEEE 1149.1)

XJTAG 開発システム

XJTAG開発システムは、IEEE 1149.1及び1149.6 のバウンダリスキャン・スタンダードに準拠し、電子基板のデバッグ・テスト・プログラミングを簡単に実現できるテストスイートで、HWとSWで構成されています。

XJTAG XTR, Professional, Standard and PXI systems

XJTAG は、開発者、テストエンジニアにバウンダリスキャンの可能性が解き放ちます。設計、開発プロセスは促進され、製品ライフサイクルを通してデバッグ、テストの効率が改善されるようになります。
設計  |  プロトタイプ  |  製造  |  サービス
社の成功事例:
PDF  コイト電工株式会社
PDF  ARM
PDF  Advanced Relay  
PDF  Advance Tech
PDF  Bluegiga
Curtiss-Wright 		PDF  Haliplex
PDF  Imagination Technologies
PDF  Keith & Koep
PDF  KERAjet
PDF  Link Research & Briton EMS 		PDF  Rheinmetall Air Defence
PDF  Syntech Technologies
PDF  TVonics
PDF  Wavecom
PDF  6TL

カタログ  PDF
XJTAG 概要リーフレット  PDF
XJTAG 無償評価版
JTAG について
Design For Testability (DFT) Guidelines 日本語版

XJDeveloper－グラフィカルインターフェイス >

XJDeveloper - for configuring XJTAG to test your circuitsXJDeveloper は、基板テストの設定・実行を、簡単・迅速に行なえるグラフィカルなツールです。XJDeveloper のテストスクリプトは、製品設計時のデバッグから製造工程まで再利用が容易で、製品市場投入までの期間を削減できるようになります。

ドラッグ＆ドロップインターフェイスを用いてJTAGチェインを設定し、JTAG未対応デバイスを分類する。そして、内蔵されたネットリスト・エクスプローラによりデバイス間の接続情報が簡単なインターフェイスで提供され、テストプログラムが簡単に設定、構築できるようになります。そのうえ．．．

XJDeveloper 動画デモ（音声付　3分　約12MB)
XJDeveloper 動画デモ（英語　音声付　4分3秒　約7.6MB)

アドバンスド・コネクション・テスト >

XJEaseはアドバンスド・コネクション・テスト機能を持っています。回路内のデバイスの相互接続と特性に対する理解から、XJTAGは他の多くのJTAGツールに比べて回路のより多くの領域をテストすることが可能です。また、回路内のデバイスの状態をモニターすることで、不具合発生場所に関する詳細な情報と不具合の正確な種類を得ることも可能です。そのうえ．．．

XJEase – JTAG未対応デバイスに対するテストとプログラミング >

XJEase は、JTAGテストの開発を高級言語でプログラミングできる、完全かつ、柔軟性のあるツールです。

高レベルのテスト記述言語により、テストの開発がより簡単で迅速に行えます。個々の回路ごとにどのようにテストが実装されるかの詳細をテストのプログラム記述といった方法で抽象化できる為です。そのうえ．．．

XJDeveloper, 接続テスト, XJEase データ資料  PDF

XJAnalyser – グラフィカルなJTAG解析とデバッグ >

XJAnalyser - Graphical view of your IEEE 1149.1 chainXJAnalyserの“プラグ・アンド・プレイ”コンフィグレーションで、立ち上げと実行が迅速に行え、即座にJTAGチェインの確認とJTAGチェイン上のデバイスのピンやバスの値のセットとチェックが可能です。

XJAnalyserは回路設計のデバッグ時に使用できる強力なツールです。そして、SVFやSTAPL/JAM形式のファイルをプログラミングすることも出来ます。
そのうえ．．．

XJAnalyser データ資料  PDF
XJAnalyser 動画デモ（音声付　3分40秒　約8MB)
XJAnalyser 動画デモ（英語　音声付　5分6秒　約25MB)

XJRunner – XJEaseで開発されたテストを実行 >

XJRunner - run-time environment for IEEE 1149.1 testsXJEaseのテストを実行するための環境。基板製造業者や現地でのフィールドテスト向けに特化した製品で、その為、テスト結果のログ機能、シリアル番号の生成機能やユーザーの管理機能が追加されています。そのうえ．．．

XJRunner データ資料  PDF
XJRunner 動画デモ（音声付　3分　約12MB）
XJRunner 動画デモ（英語　音声付　2分3秒　約7.3MB)

XJLink / XJLink2 – USB 接続によるJTAGインターフェイス >

XJLink USB to JTAG adapterXJLink, XJLink2 は、USB2.0対応のJTAGアダプタで、基板上のJTAGチェインに最大480Mbpsで接続されます。

小型・軽量・ポータブルで、研究室内、フィールド・テストなどあらゆる場所で最適です。ライセンスを内蔵しますので、複数のホストマシンで利用することが出来ます。そのうえ．．．

XJLink2 データ資料  PDF
XJLink データ資料  PDF

XJDemo と 概説書 >

XJDemo boardXJDemo ボードと、そのテストの概説書を用いて、XJTAGのテスト開発方法と実行を容易に学ぶことが出来ます。そのうえ．．．

COM インターフェイス

標準COMインターフェイス（standard Component Object Model）を用いて、XJTAGは、NI LabVIEW™, LabWindows™/CVI など、あるいは Visual Basic や C# で書かれたテストシステムにインテグレートさせることが出来ます。
LabVIEW and LabWindows are registered trademarks of National Instruments.

Chain Debugger

JTAGチェインデバッガ >

JTAGチェインデバッガにより、不安定なJTAGチェインのトラブルシュートを行えます。JTAG信号を動かしたり、ピン配置を設定することが出来ます。
そのうえ．．．

XJIO, XJIO-PCIボード >

XJIO expansion board - improved test coverageXJIOおよびXJIO-PCIボードを使って外部接続用コネクタの信号を確認することができる為、テスト対象ユニットのテストカバレージを向上させることが出来ます。

XJIOボード上の様々なデジタル・アナログIOを使用して、障害分離を改善し、電源電圧の確認、カスタム冶具の作成コストの削減が可能です。また、JTAG未対応デバイスのみで構成された基板のテストに使用することも可能です。 そのうえ．．．

XJIO データ資料  PDF
XJIO-PCI データ資料  PDF

PXI modules - run XJTAG from a PXI rack

PXI モジュールにより >

PXI モジュールにより、テスト対象に対して PXIラックから XJTAG を実行させることが出来ます。PXI-01、PXI-02 は、 x1 あるいは x2 つの XJLink が内蔵されており、PXI バスからテスト対象のJTAGチェインにアクセスができるようになります。
そのうえ．．．

PXI データ資料  PDF

XJAPI – 低レベルのJTAGアクセス >

ハードウェア（XJLink）に対して容易に利用できるDLL-API。あらゆるシステム要求或いはあらゆる入手可能な標準APIに対応可能なAPIを作成可能です。そして．．．

XJAPI データ資料  PDF

XJTAGの特注バージョンの提供と独自の要求に対応したXJEaseのテストプログラムを作成可能です。

XJTAGシステムに関するご質問や、価格等のお問合せは、弊社（あるいは富士設備）まで連絡下さると幸いです。

XJTAG Ltd. © Copyright 2012. All rights reserved. Part of IEEE 1149.1