バウンダリスキャンテストを最大限に活かすXJTAGの新しい拡張

英国ケンブリッジ、2019年7月16日 — バウンダリスキャンテストソリューションのリーダーであるXJTAG®社は、エンジニアがより良いテストプログラムを開発し、より効率的に運用することを支援する最新のソフトウェアのリリースを発表しました。

XJTAG 3.9では、開発者独自のテストコードからバウンダリスキャンによる各ピンの制御を行う新しいAPIや、再利用を最大限にする設定可能なオプションを持つデバイスモデル用のエディタ、 そして既存のシステムで分析がさらに簡単になったなログファイルの強化などの拡張が行われました。

XJTAGは、顧客の需要を受けて、XJAnalyserの機能を使用して、独自のソフトウェアでJTAG対応ICのピンをほとんど設定なしで操作できるようにするAPIを発表しました。 これにより、開発者はJTAG以外のテストを強化することができます。たとえば、テストルーチンはAPIを使用してボード上の制御ラインを設定し、テスト中に個々の電源レールを有効/無効にすることができます。 そして監視されているピンの状態が変化した場合に通知を受信します。 これにより、エンジニアは機能テストを設計する際に非常に有用な柔軟性を得ることができます。 このAPIは、C#、Visual Basic、およびその他の.NET環境向けに作成されており、ナショナルインスツルメンツのLabVIEW™、TestStand™、LabWindows™/ CVIなどのテストエグゼクティブと連携して動作します。 これはXJAnalyserを含むXJTAGシステムを使用しているすべてのユーザーが利用できます。また、APIの使用方法を示すVisual Studio、LabVIEW、およびTestStandのサンプルプロジェクトが付属しています。

XJDeveloper機能では、ユーザーがモデルファイルに設定可能なオプションを追加することができるエディタのおかげで、新しいデバイスを分類することはさらに効率的になりました。 これにより、1つのファイルで異なる実装間で変更したいパラメータを持つデバイス(異なるアドレスに設定できるI2Cデバイスなど)をサポートすることや、調整可能なパラメータを含めることができます(テキストの出力量を変更したり、メモリのプログラミング方法を変更したりする)。これにより、エンジニアは簡単に再利用できる柔軟なデバイスモデルを作成することができ、作業がより簡単で効率的になります。

バウンダリスキャンテストの実行時に、機械的に可読なログファイルは新しいキーワードで強化された構造を持ち、コンピュータが情報を抽出するのをさらに簡単にします。ファイル形式は文書化されているので、バウンダリスキャンテストからの出力は、問題なく結果データベースに取り込むことができます。そしてオペレータはすでに確立されたシステムを使用して生産ライン全体にわたってユニットの履歴を追跡することができます。

この最新リリースでは、バウンダリスキャンテクノロジにおけるXJTAGの継続的なリーダーシップと、これまで以上に強力なツールをテスト分野に導入する一方で、エンジニアのタスクをより簡単かつ効率的にするという同社の継続的な取り組みを示しています。

有効な保守契約を結んでいる既存のクライアントのためにXJTAG 3.9がwww.xjtag.comからダウンロードできるようになりました。 無料の初期テストプロジェクト設定を備えたフル機能のトライアルは、新規クライアントには無料で利用できます。詳細については、www.xjtag.comをご覧ください。 XJTAGには、enquiries@xjtag.comから連絡できます。

 


XJTAG社について

XJTAG社はIEEE Std. 1149.x準拠のバウンダリスキャンツールの第一人者として、革新的な製品を開発して、高いレベルのテクニカルサポートを提供しています。本拠地を英国ケンブリッジに構え、世界中に50社以上の経験豊富でプロフェッショナルな代理店、テクノロジーパートナーを擁しています。様々なJTAGバウンダリスキェンテストのソリューションを、航空・宇宙、自動車、防衛、医療機器、産業機器、製造装置、通信システムなど、多様なドメインに提供し続けています。www.xjtag.com

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